[實用新型]基于空間光調制器的薄壁件加工誤差測量裝置有效
| 申請號： | 201620482920.6 | 申請日： | 2016-05-25 |
| 公開（公告）號： | CN205630148U | 公開（公告）日： | 2016-10-12 |
| 發明（設計）人： | 吳石;王洋洋;劉獻禮;王延福;劉海瑞 | 申請（專利權）人： | 哈爾濱理工大學 |
| 主分類號： | B23Q17/20 | 分類號： | B23Q17/20;B23Q17/24 |
| 代理公司： | 哈爾濱東方專利事務所 23118 | 代理人： | 陳曉光 |
| 地址： | 150080 黑龍江省哈爾濱市南*** | 國省代碼： | 黑龍江;23 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 基于 空間 調制器 薄壁 加工 誤差 測量 裝置 | ||
【權利要求書】：
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