[實用新型]用于提取近場太赫茲信號的偽零差干涉探測系統(tǒng)有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201620239822.X | 申請日： | 2016-03-26 |
| 公開（公告）號： | CN205484414U | 公開（公告）日： | 2016-08-17 |
| 發(fā)明（設(shè)計）人： | 代廣斌;王化斌;楊忠波;鄭妍;崔洪亮;魏東山;常天英;杜春雷 | 申請（專利權(quán)）人： | 吉林大學(xué) |
| 主分類號： | G01Q60/18 | 分類號： | G01Q60/18 |
| 代理公司： | 長春市四環(huán)專利事務(wù)所(普通合伙) 22103 | 代理人： | 張建成 |
| 地址： | 130061 吉*** | 國省代碼： | 吉林;22 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 用于 提取 近場 赫茲 信號 偽零差 干涉 探測 系統(tǒng) | ||
【說明書】：
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G01 測量；測試
G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備；掃描探針技術(shù)的應(yīng)用，例如，掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q60-00 特殊類型的SPM [掃描探針顯微術(shù)]或其設(shè)備；其基本組成
G01Q60-02 .多個類型SPM，即包括兩種或更多種SPM技術(shù)
G01Q60-10 .STM [掃描隧道顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如STM探針
G01Q60-18 .SNOM [掃描近場光學(xué)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如，SNOM探針
G01Q60-24 .AFM [原子力顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如AFM探針
G01Q60-44 .SICM [掃描離子電導(dǎo)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如SICM探針
G01Q 掃描探針技術(shù)或設(shè)備；掃描探針技術(shù)的應(yīng)用，例如，掃描探針顯微術(shù)[SPM]
G01Q60-00 特殊類型的SPM [掃描探針顯微術(shù)]或其設(shè)備；其基本組成
G01Q60-02 .多個類型SPM，即包括兩種或更多種SPM技術(shù)
G01Q60-10 .STM [掃描隧道顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如STM探針
G01Q60-18 .SNOM [掃描近場光學(xué)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如，SNOM探針
G01Q60-24 .AFM [原子力顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如AFM探針
G01Q60-44 .SICM [掃描離子電導(dǎo)顯微術(shù)]或其設(shè)備，例如SICM探針
