[實(shí)用新型]一種快速檢測(cè)多晶硅料生長(zhǎng)異常的裝置有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201620070754.9 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-25 |
| 公開(公告)號(hào): | CN205353300U | 公開(公告)日: | 2016-06-29 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 熊艷榮;鐘德京;劉存健 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江西賽維LDK太陽(yáng)能高科技有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/26 | 分類號(hào): | G01R31/26;G01R19/165;G01R27/02 |
| 代理公司: | 廣州三環(huán)專利代理有限公司 44202 | 代理人: | 郝傳鑫;熊永強(qiáng) |
| 地址: | 338000 江西省新余*** | 國(guó)省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 快速 檢測(cè) 多晶 生長(zhǎng) 異常 裝置 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及半導(dǎo)體測(cè)試器材技術(shù)領(lǐng)域,尤其涉及一種快速檢測(cè)多晶硅料生長(zhǎng)異常的裝置。
背景技術(shù)
在光伏行業(yè)中,半導(dǎo)體的電阻率是反映其導(dǎo)電性能的重要參數(shù),不同類型、不同型號(hào)的半導(dǎo)體器件要求采用不同電阻率的硅材料制成,硅料的測(cè)試結(jié)果直接影響產(chǎn)品的性能和價(jià)值。而本行業(yè)內(nèi)采用的硅料多為西門子法所生產(chǎn),當(dāng)某一區(qū)域出現(xiàn)異常的高濃度硼、磷等元素時(shí),該異常生長(zhǎng)區(qū)的電阻率較低,則該硅料不能用于鑄造硅碇,否則會(huì)造成嚴(yán)重的經(jīng)濟(jì)損失。
目前行業(yè)內(nèi)對(duì)硅料的檢測(cè)多采用套棒區(qū)熔的方式對(duì)多晶硅料進(jìn)行檢測(cè),檢測(cè)成本高、周期長(zhǎng),且套棒未取到硅料生長(zhǎng)異常區(qū)域的概率很大,導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果失真,極大影響后續(xù)硅錠的出材率;該行業(yè)內(nèi)也有采用以“四針探法”原理為基礎(chǔ)而開發(fā)出的設(shè)備,但此類設(shè)備在使用中要求在樣品測(cè)試的表面事先采用金剛砂噴射成測(cè)量道,且要求使用者必須經(jīng)過(guò)高標(biāo)準(zhǔn)的技術(shù)培訓(xùn),同時(shí)檢測(cè)效率低,它檢測(cè)一個(gè)點(diǎn)需5分鐘左右,而每個(gè)多晶硅片的檢測(cè)點(diǎn)最少需5個(gè)(這樣,才能保證產(chǎn)品的高質(zhì)量),所以,每個(gè)多晶硅片至少需25分鐘才能檢測(cè)好,該速度遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足現(xiàn)有企業(yè)的需求。
實(shí)用新型內(nèi)容
有鑒于此,本實(shí)用新型針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)存在之缺失,其主要目的是提供一種能快速檢測(cè)多晶硅料生長(zhǎng)異常的裝置,提高檢測(cè)效率和準(zhǔn)確率,滿足工業(yè)化的硅料檢測(cè)需要。
為實(shí)現(xiàn)上述目的,本實(shí)用新型提供一種快速檢測(cè)多晶硅料生長(zhǎng)異常的裝置,所述裝置包括主控板以及外設(shè)在所述主控板的第一電阻筆、第二電阻筆、顯示器和報(bào)警器,其中,所述主控板內(nèi)部設(shè)有第一轉(zhuǎn)換器、第二轉(zhuǎn)換器和控制器,所述第一電阻筆的信號(hào)輸出端連接至所述第一轉(zhuǎn)換器的第一輸入端,所述第一轉(zhuǎn)換器的第一輸出端連接至所述控制器的輸入端,所述控制器的第一輸出端連接至所述報(bào)警器的輸入端,所述控制器的第二輸出端連接至所述第一轉(zhuǎn)換器的第二輸入端,所述第一轉(zhuǎn)換器的第二輸出端連接至所述第二轉(zhuǎn)換器的第一輸入端,所述第二轉(zhuǎn)換器的輸出端連接至所述顯示器的輸入端,所述第二電阻筆的信號(hào)輸出端連接至所述第二轉(zhuǎn)換器的第二輸入端,其中:
使用所述第一電阻筆的測(cè)試端接觸待測(cè)多晶硅料時(shí),所述第一電阻筆產(chǎn)生第一電流信號(hào)并將所述第一電流信號(hào)輸出至所述第一轉(zhuǎn)換器,所述第一轉(zhuǎn)換器將所述第一電流信號(hào)轉(zhuǎn)換成渦流信號(hào),并將所述渦流信號(hào)通過(guò)所述第一轉(zhuǎn)換器的第一輸出端輸出至所述控制器,其中,所述第一電阻筆為高阻筆;
當(dāng)所述控制器判斷接收的所述渦流信號(hào)小于預(yù)設(shè)值時(shí),所述控制器輸出報(bào)警控制信號(hào)至所述報(bào)警器以控制所述報(bào)警器報(bào)警,提示待測(cè)硅料為生長(zhǎng)異常的多晶硅料;當(dāng)所述控制器判斷接收的所述渦流信號(hào)大于或等于所述預(yù)設(shè)值時(shí),所述控制器發(fā)送輸出控制信號(hào)至所述第一轉(zhuǎn)換器的第二輸入端,以控制所述第一轉(zhuǎn)換器將所述第一電流信號(hào)輸出至所述第二轉(zhuǎn)換器的第一輸入端,所述第二轉(zhuǎn)換器將所述第一電流信號(hào)轉(zhuǎn)成第一電阻率信號(hào),并將所述第一電阻率信號(hào)輸出至所述顯示器并顯示;
在所述報(bào)警器報(bào)警之后,使用所述第二電阻筆的測(cè)試端接觸所述待測(cè)多晶硅料,所述第二電阻筆產(chǎn)生第二電流信號(hào),并將所述第二電流信號(hào)輸出至所述第二轉(zhuǎn)換器,所述第二轉(zhuǎn)換器將所述第二電流信號(hào)轉(zhuǎn)成第二電阻率信號(hào),并將所述第二電阻率信號(hào)輸出至所述顯示器并顯示,其中,所述第二電阻筆為低阻筆。
其中,所述第一電阻筆的內(nèi)設(shè)電流為125-135MHz,內(nèi)設(shè)電壓小于50mV。
其中,所述第二電阻筆的內(nèi)設(shè)電流為50-125MHz,內(nèi)設(shè)電壓大于或等于50mV。
其中,所述第一電阻筆和所述第二電阻筆的測(cè)試端的材質(zhì)為碳化鎢或金銅合金。
其中,所述第一電阻筆還包括筆桿,所述筆桿位于其測(cè)試端和信號(hào)輸出端之間,所述筆桿的材質(zhì)為黃銅。
其中,所述第二電阻筆還包括筆桿,所述筆桿位于其測(cè)試端和信號(hào)輸出端之間,所述筆桿的材質(zhì)為黃銅。
其中,所述預(yù)設(shè)值為0.5-30Ω·cm的電阻率所對(duì)應(yīng)的渦流信號(hào)。
其中,所述控制器為單片機(jī)。
其中,所述報(bào)警器包括蜂鳴器和LED指示燈中的一種或多種。
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- 專利分類
G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
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