[實(shí)用新型]一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201620058026.6 | 申請(qǐng)日: | 2016-01-21 |
| 公開(公告)號(hào): | CN205383979U | 公開(公告)日: | 2016-07-13 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張佳 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 四川建筑職業(yè)技術(shù)學(xué)院 |
| 主分類號(hào): | G01B5/28 | 分類號(hào): | G01B5/28 |
| 代理公司: | 成都君合集專利代理事務(wù)所(普通合伙) 51228 | 代理人: | 張鳴潔 |
| 地址: | 618000 四川省德陽市*** | 國(guó)省代碼: | 四川;51 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 絲米 物體 表面 平整 繪制 | ||
技術(shù)領(lǐng)域
本實(shí)用新型涉及一種建筑行業(yè)探測(cè)平整度的工具,具體的說,是一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺。
背景技術(shù)
在生活水平日益提高的今天,我們對(duì)生活中的很多細(xì)節(jié)會(huì)花更多的功夫,例如,我們有時(shí)候想知道墻體是否平整,瓷磚貼了的地面是否平整。
目前測(cè)量新建工程墻面平整度的工具是比較原始的,一般靠一把木質(zhì)直尺和一把塞尺。檢測(cè)時(shí)需要3人同時(shí)進(jìn)行,其中一人將直尺靠到受檢墻面上,另一人用目測(cè)直尺與墻面之間的空隙,再將塞尺塞入縫隙內(nèi),塞尺插入的深度越大,則表明其平整度越差。這種測(cè)量方法缺點(diǎn)很多,如使用起來很復(fù)雜、比較耗費(fèi)人力資源且所數(shù)據(jù)不科學(xué),有很大誤差。
實(shí)用新型內(nèi)容
本實(shí)用新型的目的在于針對(duì)現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供一種使用方便、測(cè)量誤差小、結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單的物體表面平整度繪制尺。
本實(shí)用新型通過下述技術(shù)方案實(shí)現(xiàn):一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺,包括底座、與底座相連的擋板,設(shè)置于底座與擋板上的探測(cè)裝置以及底座上放置的畫紙,探測(cè)裝置包括卡于底座、擋板上的探測(cè)筆、固定于探測(cè)筆上的畫筆,底座截面呈L形,包括相互垂直的探測(cè)筆固定基體、畫紙載體,探測(cè)筆固定基體上設(shè)置有底座探測(cè)筆卡槽,其上還設(shè)置有固定腳,所述畫紙放置于畫紙載體上,探測(cè)筆的頂端設(shè)置有固定環(huán),所述畫筆通過固定環(huán)固定于探測(cè)筆上,且其筆尖與畫紙接觸。
本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺,其所述擋板與探測(cè)筆固定基體平行,其上設(shè)置有與底座探測(cè)筆卡槽形狀大小相同且位置相對(duì)應(yīng)的擋板探測(cè)筆卡槽,且其通過探測(cè)筆固定基體上設(shè)置的固定腳與底座固定連接,并且固定腳延伸到擋板的另外一面。
本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺,其所述探測(cè)筆同時(shí)卡于底座探測(cè)筆卡槽、擋板探測(cè)筆卡槽內(nèi),且其筆尖靠近擋板一側(cè)。
本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺,其所述探測(cè)筆上套有彈簧,彈簧置于底座與擋板之間。彈簧的設(shè)置目的在于使得探測(cè)筆在滑動(dòng)的時(shí)候能減少震動(dòng),保持畫出線條的精確度。
本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺,其所述探測(cè)筆的筆尖設(shè)置有圓形滾珠,圓形滾珠的設(shè)置則使得探測(cè)筆在不光滑的探測(cè)面也可以無障礙的滑行。
本實(shí)用新型與現(xiàn)有技術(shù)相比,具有以下優(yōu)點(diǎn)及有益效果:
(1)本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺在其使用過程中,只需一人操作即可,使用起來較為方便。
(2)本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺的測(cè)量結(jié)果與現(xiàn)有技術(shù)的探測(cè)結(jié)果相比誤差較小。
(3)本實(shí)用新型所述的一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單。
附圖說明
圖1為本實(shí)用新型整體結(jié)構(gòu)圖。
圖2為本實(shí)用新型底座整體結(jié)構(gòu)圖。
圖3為探測(cè)筆筆尖部分局部放大圖。
其中1—底座,11—探測(cè)筆固定基體,111—底座探測(cè)筆卡槽,12—畫紙載體,13—固定腳,2—擋板,21—擋板探測(cè)筆卡槽,3—探測(cè)筆,31—固定環(huán),32—圓形滾珠,4—畫筆,5—彈簧,6—畫紙。
具體實(shí)施方式
下面結(jié)合實(shí)施例對(duì)本實(shí)用新型作進(jìn)一步地詳細(xì)說明,但本實(shí)用新型的實(shí)施方式不限于此。
實(shí)施例
如圖1、圖2所示,一種絲米級(jí)物體表面平整度繪制尺,包括底座1、與底座1相連的擋板2,設(shè)置于底座1與擋板2上的探測(cè)裝置以及底座1上放置的畫紙6。
所述探測(cè)裝置包括卡于底座1、擋板2上的探測(cè)筆3、固定于探測(cè)筆3上的畫筆4。
所述底座1截面呈L形,包括相互垂直的探測(cè)筆固定基體11、畫紙載體12,探測(cè)筆固定基體11上設(shè)置有底座探測(cè)筆卡槽111,其上還設(shè)置有固定腳13,所述畫紙6放置于畫紙載體12上。
所述擋板2與探測(cè)筆固定基體11平行,其上設(shè)置有與底座探測(cè)筆卡槽111形狀大小相同且位置相對(duì)應(yīng)的擋板探測(cè)筆卡槽21,且其通過探測(cè)筆固定基體11上設(shè)置的固定腳13與底座1固定連接,并且固定腳13延伸到擋板2的另外一面。
所述探測(cè)筆3同時(shí)卡于底座探測(cè)筆卡槽111、擋板探測(cè)筆卡槽21內(nèi),且其筆尖靠近擋板2一側(cè)。
所述探測(cè)筆3上套有彈簧5,彈簧5置于底座1與擋板2之間。彈簧5的設(shè)置目的在于使得探測(cè)筆3在滑動(dòng)的時(shí)候能減少震動(dòng),保持畫出線條的精確度。
所述探測(cè)筆3的筆尖設(shè)置有圓形滾珠32,圓形滾珠32的設(shè)置則使得探測(cè)筆3在不光滑的探測(cè)面也可以無障礙的滑行。
所述探測(cè)筆3的頂端設(shè)置有固定環(huán)31,所述畫筆通過固定環(huán)31固定于探測(cè)筆3上,且其筆尖與畫紙6接觸。
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