[實用新型]兩用永磁體斥力測試裝置

有效

• 申請號: 201620055418.7
• 申請日: 2016-01-20
• 公開（公告）號: CN205373928U
• 公開（公告）日: 2016-07-06
• 發明（設計）人: 丁哲;李紅博;劉正山;侯華敬;陳先鋒;張偉
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（華東）
• 主分類號: G01L1/20
• 分類號: G01L1/20
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種兩用永磁體斥力測試裝置，其特征在于：包括調整螺栓(1)、支撐殼體端蓋(2)、支撐殼體(3)、上壓塊(4)、電阻式薄膜壓力傳感器(5)、下壓塊(6)、上永磁體(7)、下永磁體(8)，所述調整螺栓(1)與支撐殼體端蓋(2)中心孔螺旋連接，支撐殼體端蓋(2)通過螺釘和支撐殼體(3)固定，調整螺栓(1)與上壓塊(4)接觸，上壓塊(4)正壓于電阻式薄膜壓力傳感器(5)上方，電阻式薄膜壓力傳感器(5)壓在下壓塊(6)上方，下壓塊(6)壓在上永磁體(7)上方，上永磁體(7)通過磁體斥力懸浮于下永磁體(8)上方，下永磁體(8)固定于支撐殼體(3)中的槽中，旋轉調整螺栓(1)可以改變上永磁體(7)和下永磁體(8)之間的距離，兩磁體之間的斥力轉變為上壓塊(4)和下壓塊(6)之間的壓力，通過電阻式薄膜壓力傳感器(5)測出。

2.根據權利要求1所述的一種兩用永磁體斥力測試裝置，其特征在于：支撐殼體(3)底面的上端面設置下圓柱槽(11)，下壓塊(6)下端面設置上圓柱槽(10)，可以放置圓柱形磁體，在圓柱槽外可放置矩形磁體。

3.根據權利要求1所述的一種兩用永磁體斥力測試裝置，其特征在于：支撐殼體(3)側壁傾斜30°夾角,斜面(9)上有尺寸刻度，能夠直接測量兩個永磁體之間的距離尺寸。