[實(shí)用新型]一種多功能微波集成電路測(cè)試工作臺(tái)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201620031877.1
• 申請(qǐng)日: 2016-01-12
• 公開（公告）號(hào): CN205310196U
• 公開（公告）日: 2016-06-15
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 李財(cái)仁
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 合肥芯谷微電子有限公司
• 主分類號(hào): B25H1/00
• 分類號(hào): B25H1/00
• 代理公司: 安徽合肥華信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 34112
• 代理人: 余成俊

1.一種多功能微波集成電路測(cè)試工作臺(tái)，包括有測(cè)試臺(tái)面，其特征在于：所述測(cè)試臺(tái)面的后端垂直固定有一個(gè)多功能面板，所述多功能面板的前端面上設(shè)有一排快速插孔，所述快速插孔包括有多個(gè)交叉設(shè)置的電源插座、靜電接口、壓縮空氣快速接口、氮?dú)饪焖俳涌凇⒄婵湛焖俳涌冢凰龆喙δ苊姘宓那岸嗣嫔线€橫設(shè)有一個(gè)可上下滑動(dòng)的擋板。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種多功能微波集成電路測(cè)試工作臺(tái)，其特征在于：所述多功能面板的后端面上設(shè)有便拆式封閉線槽，各快速插孔的連接管及電線均在封閉線槽內(nèi)。