[實用新型]一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置

有效

• 申請號: 201620025738.8
• 申請日: 2016-01-12
• 公開（公告）號: CN205352906U
• 公開（公告）日: 2016-06-29
• 發明（設計）人: 孟范寶;葛洪魁;閆偉;楊柳;吳珊;王小瓊;申潁浩;劉敦卿;劉峻嶸
• 申請（專利權）人: 中國石油大學（北京）
• 主分類號: G01N15/08
• 分類號: G01N15/08
• 代理公司: 北京紀凱知識產權代理有限公司 11245
• 代理人: 關暢;劉美麗

1.一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置，其特征在于，該測試裝置設置在一密閉腔室內，它包括一平衡壓力液體容器、一基質容器、一導管、一電導率儀、一電子天平、一溫度傳感器、一濕度傳感器、一壓力傳感器和一計算機，所述密閉腔室的一側面設置一開口，所述開口處設置一單向閥門；

所述平衡壓力液體容器與所述基質容器連通，且所述平衡壓力液體容器與所述基質容器的連通處設置一離子膜；所述基質容器內充滿去離子水，所述導管浸泡在所述基質容器內，所述導管用于盛放巖屑，所述導管的兩端分別設置有防止巖屑泄露的紗布；所述電導率儀的兩檢測端分別設置在所述導管兩側；所述電子天平用于懸掛測量所述導管的質量，所述電子天平連接所述計算機；所述溫度傳感器、濕度傳感器和壓力傳感器分別固定設置在所述密閉腔室內，且所述溫度傳感器、濕度傳感器和壓力傳感器分別連接所述計算機。

2.如權利要求1所述的一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置，其特征在于，所述平衡壓力液體容器的體積為所述基質容器的體積的1～1.5倍。

3.如權利要求1所述的一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置，其特征在于，所述電子天平采用METTLER的XPE504型號分析天平，最大量程520g，測試精度為0.1mg，最小稱量值為82mg。

4.如權利要求2所述的一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置，其特征在于，所述電子天平采用METTLER的XPE504型號分析天平，最大量程520g，測試精度為0.1mg，最小稱量值為82mg。

5.如權利要求1或2或3或4所述的一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置，其特征在于，所述電導率儀采用METTLER的pH/ORP/離子/電導率儀，所需溫度環境5℃～40℃，電導率0.001～1μS/cm，測量值±0.5％。

6.如權利要求1或2或3或4所述的一種用于評價巖屑基質自發滲吸能力的測試裝置，其特征在于，所述溫度傳感器、濕度傳感器和壓力傳感器采用OMEGA的iBTHX變送器以及相配合使用的通用100～240V交流電電源適配器，所述變送器配有壓力、溫度及濕度探頭。