[發明專利]一種用于高精度光纖測量的抽絲方法

在審

• 申請號: 201611270833.5
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106898031A
• 公開（公告）日: 2017-06-27
• 發明（設計）人: 朱俊;高建;王磊
• 申請（專利權）人: 江蘇駿龍光電科技股份有限公司
• 主分類號: G06T11/20
• 分類號: G06T11/20
• 代理公司: 南京知識律師事務所32207
• 代理人: 王一源

1.一種用于高精度光纖測量的抽絲方法，其特征在于步驟包括：

1)對待檢測光纖進行采樣，根據采樣點數據通過滑動平均法或加權平均法診斷滑動序列曲線圖的變化趨勢；

2)通過三次指數平滑法計算，獲得整個曲線的趨勢；

3)根據反射點信號尖峰的特點，從極大值中過濾出尖峰點；

4)消除尖峰點偏移，計算出原始曲線中尖峰點的信息。

2.根據權利要求1所述的一種用于高精度光纖測量的抽絲方法，其特征在于所述滑動平均法的具體為：確定滑動長度k，樣本量為n的序列x，用式直接對觀測數據進行滑動平均計算，n個數據可以得到n-k+1個平滑值。

3.根據權利要求1所述的一種用于高精度光纖測量的抽絲方法，其特征在于所述三次指數平滑法是對同時含有趨勢和非線性的時間序列進行預測，所述三次指數平滑法是基于一次指數平滑法和二次指數平滑法計算的。

4.根據權利要求3所述的一種用于高精度光纖測量的抽絲方法，其特征在于所述一次指數平滑法基于的遞推關系：si＝α xi+(1-α)si-1，其中α是平滑參數，si是之前i個數據的平滑值，取值為[0，1]，α越接近1，平滑后的值越接近當前時間的數據值，數據越不平滑，α越接近0，平滑后的值越接近前i個數據的平滑值，數據越平滑；所述一次指數平滑法進行預測的公式為：xi+h＝si，其中i為當前最后的一個數據記錄的坐標，亦即預測的時間序列為一條直線。

5.根據權利要求3所述的一種用于高精度光纖測量的抽絲方法，其特征在于所述二次指數平滑法保留了趨勢的信息，使得預測的時間序列可以包含之前數據的趨勢，所述二次指數平滑法通過添加一個新的變量t來表示平滑后的趨勢：si＝α xi+(1-α)(si-1+ti-1)，ti＝β(si-si-1)+(1-β)ti-1，所述二次指數平滑法的預測公式為xi+h＝si+hti二次指數平滑的預測結果是一條斜的直線。

6.根據權利要求3所述的一種用于高精度光纖測量的抽絲方法，其特征在于所述三次指數平滑法是在二次指數平滑法的基礎上保留了非線性的信息，所述三次指數平滑法添加了一個新的參數p來表示平滑后的趨勢，所述三次指數平滑法包括累加的三次指數平滑法和累乘的三次指數平滑法，所述累加的三次指數平滑法：i＝α(xi-pi-k)+(1-α)(si-1+ti-1)，ti＝β(si-si-1)+(1-β)ti-1，pi＝γ(xi-si)+(1-γ)pi-k，其中k為周期，所述累加的三次指數平滑法的預測公式為：xi+h＝si+hti+pi-k+(h mod k)；所述累乘的三次指數平滑法：si＝α xi/pi-k+(1-α)(si-1+ti-1)，i＝β(si-si-1)+(1-β)ti-1，pi＝γ xi/si+(1-γ)pi-k，其中k為周期，所述累乘的三次指數平滑法的預測公式為：xi+h＝(si+hti)pi-k+(h mod k)，α，β，γ的值都位于[0，1]之間。