[發明專利]一種用納米壓痕檢測冷軋金屬薄板法向應變均勻性的方法

在審

• 申請號: 201611270608.1
• 申請日: 2016-12-24
• 公開（公告）號: CN108240943A
• 公開（公告）日: 2018-07-03
• 發明（設計）人: 陳明彪;李青山;劉文昌;楊慶祥;張勇
• 申請（專利權）人: 青海大學
• 主分類號: G01N3/40
• 分類號: G01N3/40
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種用納米壓痕檢測冷軋金屬薄板法向應變均勻性的方法，其特征是：通過使用納米壓痕硬度計檢測金屬材料冷軋薄板試樣表面至中心層的硬度值的均勻性，根據金屬材料冷軋薄板應變量大小與應變后硬度值高低的對應關系，分析金屬材料冷軋薄板試樣厚度方向表面至中心層的應變均勻性；其包括步驟：(1)從金屬材料冷軋薄板上切取板面硬度檢測試板；(2)加工板面硬度檢測試板，制作符合納米壓痕硬度計檢測要求的板面硬度檢測初始試樣；(3)使用納米壓痕硬度計檢測試樣厚度方向表層至中心層的硬度均勻性：依次進行：打磨板面硬度檢測試樣的檢測板面至得到符合納米壓痕硬度計檢測要求的試樣初始檢測表面并檢測該表面硬度值，將板面硬度檢測試樣打磨去除1/4厚度層得到符合納米壓痕硬度計檢測要求的試樣1/4厚度層檢測表面并檢測該表面硬度值，將板面硬度檢測試樣再打磨去除1/4厚度層至中心層得到符合納米壓痕硬度計檢測要求的試樣中心層檢測表面并檢測該表面硬度值；(4)依據得到的初始檢測表面、1/4厚度層檢測表面，中心層檢測表面的該表面硬度值，根據金屬材料冷軋應變量大小與應變后硬度值高低的對應關系，分析判斷試樣表層至中心層冷軋應變均勻性；所述的冷軋金屬薄板的厚度小于1.2mm。

2.一種用納米壓痕檢測冷軋金屬薄板法向應變均勻性的方法，其特征是：所述的該表面硬度值為經過壞值剔除后的8-20個硬度檢測值的平均值。