[發明專利]模體、測量系統矩陣的方法及裝置

有效

• 申請號: 201611270482.8
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106650700B
• 公開（公告）日: 2020-12-01
• 發明（設計）人: 陳鳴之;楊宏成
• 申請（專利權）人: 上海聯影醫療科技股份有限公司
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種模體，用于系統矩陣的測量，其特征在于，包括：

基體；以及

布設在所述基體中的標記物，其中，所述標記物的大小在至少一個維度上小到足以使得所述標記物在該至少一個維度上的投影圖像的尺寸小于探測器像素尺寸，其中所述探測器采集射線源發出的射線束穿過所述模體后的投影圖像。

2.如權利要求1所述的模體，其特征在于，所述模體包括布設在所述基體不同位置處的多個所述標記物。

3.如權利要求2所述的模體，其特征在于，所述標記物的布設使得它們在同一投影角度下的投影圖像中的位置不重合。

4.如權利要求3所述的模體，其特征在于，所述標記物為多個標記物，并且所述多個標記物在所述基體中被布設為如下設計中的一種或多種：螺線型、直線型、曲線型、折線型。

5.如權利要求1所述的模體，其特征在于，所述標記物的形狀為小球形狀、細絲形狀、或兩者的組合。

6.如權利要求1所述的模體，其特征在于，所述標記物的材料與所述基體的材料的吸收系數不同。

7.一種測量系統矩陣的方法，其特征在于，包括：

獲取如權利要求1～6任一項所述的模體中體素的擴散函數；以及

基于初始系統矩陣和所述體素的擴散函數獲得系統矩陣。

8.如權利要求7所述的測量系統矩陣的方法，其特征在于，所述標記物為小球，所述獲取模體中體素的擴散函數包括：

采集所述模體的投影圖像，獲取所述小球在所述投影圖像中的投影中心點；

以所述小球在所述投影圖像中的投影中心點為中心選取預定鄰域，以所述小球的投影中心點的灰度值為基準對該鄰域的像素點的灰度值進行歸一化；

基于所述預定鄰域中像素點到所述小球的投影中心點的距離及該像素點的歸一化的灰度值生成所述小球的擴散函數；以及

基于所述小球的擴散函數和插值函數生成所述模體中體素的擴散函數。

9.如權利要求8所述的測量系統矩陣的方法，其特征在于，基于所述小球的擴散函數和插值函數生成所述模體中體素的擴散函數包括：

建立與所述小球的擴散函數對應的基函數；

對與所述小球的擴散函數對應的基函數特征表示進行插值獲得所述模體中體素的基函數特征表示；

將所述模體中體素的基函數特征表示轉換為與該體素對應的擴散函數。

10.如權利要求8所述的測量系統矩陣的方法，所述插值函數為：最近鄰插值函數、三線性插值函數、B樣條插值函數中的一種。

11.如權利要求7所述的測量系統矩陣的方法，其特征在于，所述標記物為細絲，所述獲取模體中體素的擴散函數包括：

采集第一投影角度下所述模體的投影圖像，獲取所述投影圖像中細絲上每一個點在與細絲所在方向垂直的方向上的第一擴散函數；

采集第二投影角度下所述模體的投影圖像，獲取細絲上每一個點在與細絲所在方向垂直的方向上的第二擴散函數；所述第一投影角度與所述第二投影角度垂直；

將與所述細絲上每一個點對應的第一擴散函數和第二擴散函數相乘以獲得細絲的擴散函數；

基于所述細絲的擴散函數和插值函數生成所述模體中體素的擴散函數。

12.如權利要求11所述的測量系統矩陣的方法，其特征在于，獲取所述投影圖像中細絲上的點在與細絲所在方向垂直的方向上的擴散函數包括：

獲取所述細絲上的點在所述投影圖像中的投影中心點；

以所述細絲上該點在所述投影圖像中的投影中心點為中心選取預定鄰域，以所述細絲上該點的投影中心點的灰度值為基準對該鄰域的像素點的灰度值進行歸一化；

基于所述預定鄰域中像素點到所述細絲上該點的投影中心點的距離及該像素點的歸一化的灰度值生成所述細絲上該點在與細絲所在方向垂直的方向上的擴散函數。