[發(fā)明專(zhuān)利]一種激光刻蝕錯(cuò)位半球與ODR結(jié)合的藍(lán)寶石圖形襯底及制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611267176.9 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-31 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN108269896A | 公開(kāi)(公告)日: | 2018-07-10 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邵慧慧;徐現(xiàn)剛;劉成成;于果蕾;李沛旭 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 山東華光光電子股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L33/20 | 分類(lèi)號(hào): | H01L33/20;H01L33/10;H01L33/00;H01L21/268 |
| 代理公司: | 濟(jì)南金迪知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 37219 | 代理人: | 王楠 |
| 地址: | 250101 山東省濟(jì)*** | 國(guó)省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 襯底 藍(lán)寶石圖形 激光刻蝕 半球狀突起 錯(cuò)位 制備 出光效率 藍(lán)寶石 光電子技術(shù)領(lǐng)域 表面外延 反射鏡層 圖形結(jié)構(gòu) 半球狀 反射鏡 上半球 斜側(cè)壁 生長(zhǎng) 延伸 | ||
本發(fā)明涉及一種激光刻蝕錯(cuò)位半球與ODR結(jié)合的藍(lán)寶石圖形襯底及制備方法,屬于光電子技術(shù)領(lǐng)域,包括在藍(lán)寶石襯底上通過(guò)激光刻蝕出錯(cuò)位半球狀突起,所述的藍(lán)寶石圖形襯底的單個(gè)圖形結(jié)構(gòu)為半球狀,在所述半球狀突起的斜側(cè)壁上有反射鏡層。本發(fā)明在藍(lán)寶石襯底的基礎(chǔ)上做出錯(cuò)位半球狀突起,激光刻蝕,精密度高,圖形易于控制,增加出光機(jī)會(huì),大大提高出光效率。同時(shí)在藍(lán)寶石圖形襯底的上半球圖形上制備ODR反射鏡,然后在其表面外延生長(zhǎng)GaN層,不但能抑制缺陷的延伸,而且能提高GaN的晶體質(zhì)量,同時(shí)提升出光效率。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及一種激光刻蝕錯(cuò)位半球與ODR結(jié)合的藍(lán)寶石圖形襯底及制備方法,屬于光電子技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
GaN基材料的外延層主要是生長(zhǎng)在藍(lán)寶石襯底上,藍(lán)寶石襯底有許多的優(yōu)點(diǎn):首先,藍(lán)寶石襯底的生產(chǎn)應(yīng)用成熟、質(zhì)量較好;其次,藍(lán)寶石的穩(wěn)定性很好,能夠運(yùn)用在高溫生長(zhǎng)過(guò)程中;最后,藍(lán)寶石的機(jī)械硬度高,易于處理和清洗,因大多數(shù)GaN-LED采用藍(lán)寶石襯底生長(zhǎng),藍(lán)寶石襯底上生長(zhǎng)GaN材料,存在較多的問(wèn)題,其中最大的問(wèn)題是表面出光問(wèn)題,雖然GaN基LED已經(jīng)產(chǎn)業(yè)化,但是芯片出光效率低的問(wèn)題仍然沒(méi)有很好的解決。根據(jù)GaN基LED的發(fā)光性質(zhì)來(lái)看,一般可以用來(lái)提高GaN基LED的發(fā)光效率主要有兩種途徑,一種是提高其內(nèi)量子效率,一種是提高其外量子效率。由于GaN功率型LED材料一般都是采用MOCVD的外延生長(zhǎng)和多量子阱的結(jié)構(gòu),但是提升內(nèi)量子效率不明顯。
經(jīng)研究發(fā)現(xiàn)組裝的InGaN LED能有效的降低體內(nèi)的位錯(cuò)密度,主要是由于襯底上的微型圖形改變了GaN生長(zhǎng),抑制了缺陷的進(jìn)一步延伸,從而降低了GaN體內(nèi)的缺陷密度。出光效益的增強(qiáng)的原因是非輻射復(fù)合中心(位錯(cuò)和點(diǎn)缺陷)的減少使其發(fā)光效益增加。Motokazu Yamada et al.利用PSS(Patterned Sapphire Substrate)技術(shù)研究了UV-LED,結(jié)果發(fā)現(xiàn)在20mA的正向電流注入下,出光效益達(dá)到35.5%。解釋其原因是PSS結(jié)構(gòu)的襯底使朝下的光的傳播方向從幾乎規(guī)定的方向到任意方向能有效提高LED的出光效益。PSS制備工藝比較簡(jiǎn)單,且均勻性,穩(wěn)定性較好,制作成本低,所以得到廣泛應(yīng)用。PSS一方面可以解決由于藍(lán)寶石與GaN之間存在較大的晶格失配和熱膨脹系數(shù)失配這一問(wèn)題,同時(shí)PSS微型圖形結(jié)構(gòu)改變了GaN的生長(zhǎng)過(guò)程,能夠抑制缺陷向外延表面延伸,降低了外延的缺陷密度。另一方面,GaN與藍(lán)寶石襯底的折射率和空氣的折射率存在差距,GaN材料的折射率(2.4)高于藍(lán)寶石襯底(1.7)和空氣的折射率(1.0),PSS圖形結(jié)構(gòu)改變了有源區(qū)發(fā)出光的傳播路線(xiàn),有源區(qū)發(fā)出的光入射到PSS圖形上反射回去,經(jīng)過(guò)GaN材料入射到GaN與空氣的界面,與普通藍(lán)寶石平面比較,減小了入射角,減少全反射的機(jī)會(huì),增加出光機(jī)會(huì),使更多的光經(jīng)PSS結(jié)構(gòu)作用反射出來(lái),這樣就提高了光提取效率。
但是LED結(jié)區(qū)發(fā)出的光是向上、下兩個(gè)表面出射的,而封裝好的LED是“單向”出光的,因此,有必要將向下入射的光反射或直接出射。直接出射的方法即為透明襯底法,但是這種方法的成本較高、工藝復(fù)雜。本專(zhuān)利研究的是由多層交替的高折射率和低折射率材料組成的ODR結(jié)構(gòu),它位于外延層和襯底之間,能夠?qū)⑸湎蛞r底的光利用ODR反射原理反射回上表面,在PSS基礎(chǔ)上更加增加出光效率,同時(shí)提高GaN的晶體質(zhì)量。
中國(guó)專(zhuān)利文件CN201510414119.8公開(kāi)了一種周期性碗狀結(jié)構(gòu)模板及其制備方法的專(zhuān)利,在基底上沉積二氧化硅掩膜層,在其上旋涂光刻膠,制備周期性微納米光刻膠點(diǎn)陣圖形,在光刻膠結(jié)構(gòu)上沉積一層金屬薄膜,經(jīng)過(guò)剝離后得到金屬孔陣圖形,再以金屬孔陣結(jié)構(gòu)為掩膜,采用濕法腐蝕技術(shù)形成二氧化硅的碗狀陣列結(jié)構(gòu),最后除去金屬掩膜。該專(zhuān)利是采用濕法腐蝕,工藝不易控制,并且金屬掩膜容易脫落。
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- 同類(lèi)專(zhuān)利
- 專(zhuān)利分類(lèi)
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類(lèi)目中不包括的電固體器件
H01L33-00 至少有一個(gè)電位躍變勢(shì)壘或表面勢(shì)壘的專(zhuān)門(mén)適用于光發(fā)射的半導(dǎo)體器件;專(zhuān)門(mén)適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或設(shè)備;這些半導(dǎo)體器件的零部件
H01L33-02 .以半導(dǎo)體為特征的
H01L33-36 .以電極為特征的
H01L33-44 .以涂層為特征的,例如鈍化層或防反射涂層
H01L33-48 .以半導(dǎo)體封裝體為特征的
H01L33-50 ..波長(zhǎng)轉(zhuǎn)換元件





