[發明專利]一種泡沫鎳表面缺陷的檢測方法在審
| 申請號: | 201611267152.3 | 申請日: | 2016-12-31 |
| 公開(公告)號: | CN106651856A | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發明(設計)人: | 曹斌芳;李建奇;黎小琴;聶方彥;周雪峰;時夢瑤;楊峰 | 申請(專利權)人: | 湖南文理學院 |
| 主分類號: | G06T7/00 | 分類號: | G06T7/00;G06T7/44;G06K9/62 |
| 代理公司: | 佛山市廣盈專利商標事務所(普通合伙)44339 | 代理人: | 楊樂兵 |
| 地址: | 415000 湖南*** | 國省代碼: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 泡沫 表面 缺陷 檢測 方法 | ||
1.一種泡沫鎳表面缺陷的檢測方法,其特征在于,包括:
步驟S1.獲取泡沫鎳表面圖像,進行下采樣處理得到圖像A;
步驟S2.對圖像A進行NSCT變換,得到若干子圖像;
步驟S3.對子圖像在多個方向上求取灰度共生矩陣GLCM,并計算Haralick特征統計量得到特征統計向量;
步驟S4.采用KPCA對特征統計向量進行降維處理;
步驟S5.將降維后的特征統計向量作為模型輸入,采用最優有向無環圖支持向量機DAG-SVM算法對泡沫鎳的表面缺陷進行識別。
2.根據權利要求1所述泡沫鎳表面缺陷的檢測方法,其特征在于,步驟S5具體包括:
步驟S51.計算不同類別樣本的重心
步驟S52.計算每個類別的重心到其他類重心的距離的均值
步驟S53.對各類別計算的距離按從大到小順序進行排列得到新類別序列;
步驟S54.對新類別序列按照平均距離從大到小,以數列的兩端為起始位置交替地向中間排列,得到最優排序序列,使得最優序列中越靠近數列兩端的類別平均距離越大,越靠近中間位置的類別平均距離越小;
步驟S55.根據最優排序序列生成最優有向無環圖多分類器,實現多類別的區分;
其中,M表示泡沫鎳表面缺陷的類別數量,N為每類缺陷的樣本個數,xik表示第i類中第k個樣本的特征統計向量,k=1,2,…N。
3.根據權利要求1所述泡沫鎳表面缺陷的檢測方法,其特征在于,步驟S2是對圖像A進行三級NSCT變換,得到21個子圖像。
4.根據權利要求1所述泡沫鎳表面缺陷的檢測方法,其特征在于,步驟S3是選取像素間的距離度量d=5,分別對其計算0°、45°、90°及135°四個方向上求取灰度共生矩陣GLCM。
5.根據權利要求1所述泡沫鎳表面缺陷的檢測方法,其特征在于,Haralick特征統計量包括:
能量E,
熵S,
對比度I,
逆差矩D,
其中,從圖像f(m,n)中灰度為u的像素出發,與偏角θ、距離為d、灰度為v的像素m+Δm,n+Δn同時出現的概率為P(u,v,d,θ),
P(u,v,d,θ)={(m,m)|f(m,m)=u,
f(m+d cosθ,n+d sinθ)=v}
u,v=0,1,…L-1,L
L是圖像f(m,n)的灰度級數,θ為兩像素順時針與x軸的夾角,其取值通常為0°、45°、90°和135°;d表示2個像素之間的距離;P稱為空間灰度相關矩陣。
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