[發(fā)明專利]晶體中心位置圖生成方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611266541.4 | 申請日: | 2015-04-29 |
| 公開(公告)號: | CN106611173B | 公開(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 周鑫;李麗平;李強(qiáng);呂新宇;安少輝 | 申請(專利權(quán))人: | 上海聯(lián)影醫(yī)療科技有限公司 |
| 主分類號: | G06K9/32 | 分類號: | G06K9/32;G06K9/38;G06K9/46 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 201807 上海市*** | 國省代碼: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 晶體 中心 位置 生成 方法 | ||
1.一種晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,包括如下步驟:
獲取光子事件二維直方圖I,將所述光子事件二維直方圖I進(jìn)行均衡化校正,
將均衡化校正后的二維直方圖I歸一化至[0,1]之間,獲得圖像I0;
對所述圖像I0進(jìn)行迭代處理得到圖像Ii;
使用自動閾值對所述圖像Ii進(jìn)行二值化處理,獲得二值圖像集SB;
提取所述二值圖像集SB中的每幅二值圖像的連通域及其對應(yīng)的中心位置;
判斷所述連通域彼此是否有重疊;
保留有重疊的連通域中迭代次數(shù)最大的連通域;
將所述連通域?qū)?yīng)的中心位置在二維圖形中標(biāo)出,生成晶體中心位置圖,所述晶體中心位置圖包括有重疊的連通域中迭代次數(shù)最大的連通域?qū)?yīng)的中心位置以及沒有重疊的連通域?qū)?yīng)的中心位置。
2.如權(quán)利要求1所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,判斷所述連通域彼此是否有重疊的具體步驟為:
將一個(gè)連通域內(nèi)的任意位置與另一個(gè)連通域內(nèi)的任意位置進(jìn)行比較,如果相同即表示這兩個(gè)連通域彼此有重疊。
3.如權(quán)利要求1所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,所述保留有重疊的連通域中迭代次數(shù)最大的連通域的具體步驟為:
比較彼此有重疊的連通域的對應(yīng)圖像Ii的迭代次數(shù)i,剔除對應(yīng)迭代次數(shù)較小的連通域。
4.如權(quán)利要求1所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,所述有重疊的連通域中僅保留迭代次數(shù)最大的連通域的具體步驟為:比較所述彼此有重疊的連通域的面積,剔除面積較大的連通域。
5.如權(quán)利要求1所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,還包括設(shè)置面積閾值,剔除連通域面積大于所述面積閾值的連通域。
6.如權(quán)利要求1所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,所述將均衡化后的二維直方圖I歸一化至[0,1]之間采用線性收放的方式進(jìn)行,即max(I)是所述均衡化后的二維直方圖中的最大值,min(I)是所述均衡化后的二維直方圖中的最小值。
7.如權(quán)利要求6所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,所述光子事件二維直方圖最大值max(I)按照比例ε獲得,即取所述光子事件二維直方圖的灰度直方圖面積的p處的灰度為最大值max(I),p=1-ε,圖中超出最大值的max(I)的值強(qiáng)制轉(zhuǎn)換成max(I)。
8.如權(quán)利要求7所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,所述比例其中n是所述光子事件二維直方圖中實(shí)際包含的晶體數(shù)量,Np是光子事件二維直方圖的像素?cái)?shù)量。
9.如權(quán)利要求1所述的晶體中心位置圖生成方法,其特征在于,所述自動閾值的選取基于光子事件二維直方圖的灰度直方圖,所述閾值將所述光子事件二維直方圖的灰度直方圖分成兩部分,所述兩部分的質(zhì)心到所述自動閾值的距離相等。
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