[發明專利]一種野外堆積物粒徑快速測定系統及方法

在審

• 申請號: 201611265349.3
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106596361A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 楊棟;石勝偉;王軍朝;楊東旭;劉建康
• 申請（專利權）人: 中國地質科學院探礦工藝研究所
• 主分類號: G01N15/02
• 分類號: G01N15/02
• 代理公司: 成都賽恩斯知識產權代理事務所(普通合伙)51212
• 代理人: 張端陽

1.一種野外堆積物粒徑快速測定系統，采用攝像裝置獲取堆積物露頭圖像，其特征在于：所述攝像裝置內置圖像處理程序；所述野外堆積物粒徑快速測定系統還包含標準框(1)及三腳架；所述標準框(1)的四邊含刻度；所述攝像裝置固定在三腳架上。

2.根據權利要求1所述的野外堆積物粒徑快速測定系統，其特征在于：所述野外堆積物粒徑快速測定系統還包含激光筆，所述三腳架設置有夾具，夾持激光筆，攝像裝置中心在激光筆長軸上。

3.根據權利要求1、2任一項所述的野外堆積物粒徑快速測定系統，其特征在于：所述標準框(1)為1.5m*1.5m或2m*2m，由4根刻度尺(2)組成，其刻度為毫米，相鄰刻度尺(2)由螺母/螺桿連接。

4.根據權利要求3所述的野外堆積物粒徑快速測定系統，其特征在于：所述標準框(1)的相鄰刻度尺(2)的連接端設置連接杠桿(3)，一端焊接，一端以螺母/螺桿鏈接。

5.根據權利要求1、2、4任一項所述的野外堆積物粒徑快速測定系統，其特征在于：所述攝像裝置為相機或者手機。

6.根據權利要求5所述的野外堆積物粒徑快速測定系統，其特征在于：所述野外堆積物粒徑快速測定系統還包含有反光板。

7.利用權利要求1所述的野外堆積物粒徑快速測定系統的野外堆積物粒徑快速測定方法，其步驟為：

S1、選擇堆積物的良好露頭；現場安裝標準框(1)，將帶刻度尺(2)的標準框(1)用鋼釘固定于露頭面前面，覆蓋露頭面局部，貼近露頭面；

S2、將三腳架放置于距標準框(1)約2m處，左右及上下調整三腳架的位置使得激光筆的紅點正好落于標準框(1)中心；

S3、將相機調到剛好覆蓋標準框(1)的區域，采集圖像，圖像采集至少3次；

S4、由內置圖像處理程序的攝像裝置對選出的圖像處理，獲取堆積物粒徑，輸出顆分曲線和面含石率。

8.根據權利要求6所述的野外堆積物粒徑快速測定方法，其特征在于：所述步驟S1中，標準框(1)的中心高度約等于測試者的身高減掉30公分。

9.根據權利要求6所述的野外堆積物粒徑快速測定方法，其特征在于：所述步驟S3中，使用反光板把光線反射到出露面。

10.根據權利要求6所述的野外堆積物粒徑快速測定方法，其特征在于：所述步驟S4中，定義粒徑大于10mm的連通區域面積之和為面含石率。