[發明專利]獲得滑環裝置的待測通道的動態接觸電阻的方法

有效

• 申請號: 201611262246.1
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN106646061B
• 公開（公告）日: 2019-04-23
• 發明（設計）人: 沙克維
• 申請（專利權）人: 新疆金風科技股份有限公司
• 主分類號: G01R31/00
• 分類號: G01R31/00;G01R27/02
• 代理公司: 北京東方億思知識產權代理有限責任公司 11258
• 代理人: 彭瓊

本發明涉及用于獲得滑環裝置的待測通道的動態接觸電阻的方法、滑環裝置的故障診斷方法和輔助測量裝置，涉及滑環裝置領域。獲得動態接觸電阻的方法包括將待測通道的第一插針與對照通道的第一插針短接形成串聯通道；獲得串聯通道的動態接觸電阻R；估算待測通道的動態接觸電阻Rm。故障診斷方法包括根據動態接觸電阻判定待測通道是否發生故障，從而判定滑環裝置是否發生故障。輔助測量裝置包括：底座，支撐滑環裝置(100)；容納部件(420)，容納第一延長線組件(120)并且固定至旋轉部分(132)。本發明的獲得動態接觸電阻的方法和裝置，確保所獲得的動態接觸電阻的精度。本發明的故障診斷方法準確地判定滑環裝置是否發生故障。

技術領域

本發明涉及滑環裝置領域，尤其涉及用于獲得滑環裝置的待測通道的動態接觸電阻的方法、滑環裝置的故障診斷方法以及輔助測量裝置。

背景技術

滑環裝置是用于將電能和電信號等從固定裝置傳遞到旋轉裝置的電氣部件，其通常用于發電機組。圖1示出滑環裝置的外部結構的示意圖。如圖1所示，滑環裝置100包括依次相連接的第一插頭110、第一延長線組件120、滑環主體、第二延長線組件140和第二插頭150。滑環主體包括靜止部分131和旋轉部分132，其中，旋轉部分132與第一延長線組件120相連接，并且靜止部分131與第二延長線組件140相連接。

第一插頭110包括若干第一插針111，第一延長線組件120包括若干第一延長線121，靜止部分131包括若干滑道133，旋轉部分132包括若干滑針134，第二延長線組件140包括若干第二延長線141，并且第二插頭150包括若干第二插針151。由此，滑環裝置100內部形成有若干通道。

圖2示出滑環裝置的通道的示意圖。每個通道均包括依次相連接的第一插針111、第一延長線121、滑針134、滑道133、第二延長線141和第二插針151。滑針134能夠圍繞滑道133的中心軸線旋轉，并且滑道133與滑針134電連接，以傳遞電能和電信號。滑環裝置100的通道分為通訊通道和動力通道。通訊通道用于傳輸電信號，并且動力通道用于傳輸電能。

對于每個通道，當滑針134圍繞滑道133旋轉時，滑道133與滑針134之間不斷摩擦，并產生劃痕。隨著滑環裝置100使用年限的增加，滑道133與滑針134之間的磨損越來越嚴重，劃痕越來越深，使得影響滑道133與滑針134之間的導通性，從而影響滑環裝置100的性能。因此，對滑道133和滑針134的磨損程度進行測量是非常重要的。

由于隨著滑道133與滑針134之間的磨損越大，滑道133與滑針134之間的動態接觸電阻越大，因此通過測量滑道133與滑針134之間的動態接觸電阻，可以獲知滑環裝置100的磨損程度，從而確定何時維護和更換滑環裝置100。例如，圖3是一滑環裝置100的衰減曲線。根據滑道133與滑針134之間的動態接觸電阻和圖3所示的衰減曲線，能夠確定出該滑環裝置100處于生命周期的哪個階段，從而為維護和更換提供依據，以減少故障率。在本文中，術語“動態接觸電阻”指的是當滑環裝置100旋轉時滑道133和滑針134之間的電阻相對于當滑環裝置100靜止時滑道133和滑針134之間的電阻的增大量。

下面，對現有技術的用于獲得滑環裝置的通道的動態接觸電阻的方法進行描述。

圖4和圖5示出根據現有技術的一種用于獲得滑環裝置的通道的動態接觸電阻的方法進行操作時的示意圖。該方法包括如下步驟。

在步驟S1’中，提供電阻測量裝置，該電阻測量裝置包括第一探頭210和第二探頭220并且能夠用于測量第一探頭210與第二探頭220之間的電阻。電阻測量裝置是本領域的技術人員熟知的裝置，并且為了簡化說明，在附圖中，僅示出了電阻測量裝置的第一探頭210和第二探頭220，省略了電阻測量裝置的其他部分的圖示。

在步驟S2’中，將第一探頭210與第一插針111電連接，并且將第二探頭220與第二插針151電連接。