[發明專利]數據的校驗方法及裝置

在審

• 申請號: 201611261425.3
• 申請日: 2016-12-30
• 公開（公告）號: CN108268496A
• 公開（公告）日: 2018-07-10
• 發明（設計）人: 賴華貴
• 申請（專利權）人: 北京國雙科技有限公司
• 主分類號: G06F17/30
• 分類號: G06F17/30
• 代理公司: 北京康信知識產權代理有限責任公司 11240
• 代理人: 韓建偉;張永明

1.一種數據的校驗方法，其特征在于，包括：

根據待校驗數據的數據屬性，確定查詢維度；

根據所述查詢維度分別在源數據庫和目標數據庫中進行數據查詢，得到源數據集和目標數據集；

判斷所述源數據集和所述目標數據集是否相同；

如果是，則判斷數據校驗成功；否則，判斷數據校驗失敗。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，根據所述查詢維度分別在源數據庫和目標數據庫中進行數據查詢，得到源數據集和目標數據集包括：

創建第一查詢腳本和第二查詢腳本，其中，所述第一查詢腳本用于根據所述查詢維度從所述源數據庫中進行數據查詢，所述第二查詢腳本用于根據所述查詢維度從所述目標數據庫中進行數據查詢；

采用所述第一查詢腳本從所述源數據庫中查詢到所述源數據集；以及

采用所述第二查詢腳本從所述源數據庫中查詢到所述目標數據集。

3.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，判斷所述源數據集和所述目標數據集是否相同包括：

從所述源數據集中多個數據列中確定第一標識列；

從所述目標數據集中多個數據列中確定第二標識列；以及

根據所述第一標識列和所述第二標識列校驗所述源數據集中的數據與所述目標數據集中的數據是否相同。

4.根據權利要求3所述的方法，其特征在于，判斷所述源數據集和所述目標數據集是否相同包括：

比較所述第一標識列中的數據與所述第二標識列中的數據是否相同；

如果所述第一標識列中的數據與所述第二標識列中的數據相同，比較所述源數據集中非所述第一標識列中的數據與所述目標數據集中非所述第二標識列中的數據是否相同。

5.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，在判斷出所述源數據集和所述目標數據集不相同，判斷數據校驗失敗之后，所述方法還包括：

獲取所述源數據集與所述目標數據集中相同的數據列，和/或，獲取所述源數據集與所述目標數據集中不同的數據列；以及

顯示所述源數據集與所述目標數據集中相同的數據列，和/或，顯示所述源數據集與所述目標數據集中不同的數據列。

6.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述源數據庫中包括第一數據表和第二數據表，其中，所述第一數據表和所述第二數據表均包含相同的外鍵列，在根據所述查詢維度分別在源數據庫和目標數據庫中進行數據查詢之前，所述方法還包括：

通過所述外鍵列將所述第一數據表和所述第二數據表進行拼接，得到第三數據表；以及

將所述第三數據表導入所述目標數據庫。

7.一種數據的校驗裝置，其特征在于，包括：

確定單元，用于根據待校驗數據的數據屬性，確定查詢維度；

查詢單元，用于根據所述查詢維度分別在源數據庫和目標數據庫中進行數據查詢，得到源數據集和目標數據集；

判斷單元，用于判斷所述源數據集和所述目標數據集是否相同；

判定單元，用于在所述源數據集和所述目標數據集相同的情況下，判斷數據校驗成功；否則，判斷數據校驗失敗。

8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述查詢單元包括：

創建模塊，用于創建第一查詢腳本和第二查詢腳本，其中，所述第一查詢腳本用于根據所述查詢維度從所述源數據庫中進行數據查詢，所述第二查詢腳本用于根據所述查詢維度從所述目標數據庫中進行數據查詢；

第一查詢模塊，用于采用所述第一查詢腳本從所述源數據庫中查詢到所述源數據集；以及

第二查詢模塊，用于采用所述第二查詢腳本從所述源數據庫中查詢到所述目標數據集。

9.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述判斷單元包括：

第一確定模塊，用于從所述源數據集中多個數據列中確定第一標識列；

第二確定模塊，用于從所述目標數據集中多個數據列中確定第二標識列；以及

校驗模塊，用于根據所述第一標識列和所述第二標識列校驗所述源數據集中的數據與所述目標數據集中的數據是否相同。

10.根據權利要求9所述的裝置，其特征在于，所述校驗模塊包括：

第一比較子模塊，用于比較所述第一標識列中的數據與所述第二標識列中的數據是否相同；

第二比較子模塊，用于在所述第一標識列中的數據與所述第二標識列中的數據相同的情況下，比較所述源數據集中非所述第一標識列中的數據與所述目標數據集中非所述第二標識列中的數據是否相同。