[發(fā)明專利]一種砷化鎵表面形貌控制方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611251389.2 | 申請日: | 2016-12-29 |
| 公開(公告)號: | CN106653886B | 公開(公告)日: | 2018-12-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計)人: | 王盛凱;劉洪剛;孫兵 | 申請(專利權(quán))人: | 中國科學(xué)院微電子研究所 |
| 主分類號: | H01L31/0236 | 分類號: | H01L31/0236;H01L21/02;H01L31/18 |
| 代理公司: | 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 100029 *** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 砷化鎵 表面 形貌 控制 方法 | ||
1.一種砷化鎵表面形貌控制方法,其特征在于,包括如下步驟:
步驟1:將待刻蝕表面形貌的砷化鎵樣品置于真空室中,然后向真空室內(nèi)充入氧分壓氣體;
步驟2:調(diào)節(jié)氧分壓,根據(jù)氧分壓將真空室升溫至對應(yīng)溫度,使砷化鎵與氧分子在高溫低壓工作區(qū)域結(jié)合生成氣態(tài)的三氧化二砷與一氧化二鎵,控制反應(yīng)時間實現(xiàn)砷化鎵表面的形貌控制;
其中,步驟1中,所述真空室的原始氧氣分壓小于10-4Pa;
步驟2中,反應(yīng)過程中氧氣分壓控制在0.1Pa-105Pa之間,根據(jù)刻蝕速率的要求調(diào)節(jié)氧氣分壓;
步驟2中,所述高溫低壓工作區(qū)域通過下述方法確定:在真空室中,氧氣分壓控制在0.1Pa-105Pa,反應(yīng)溫度控制在300℃-700℃,在反應(yīng)溫度和氧氣分壓為橫縱坐標(biāo)的二維圖里,連接(520℃,0.1Pa)和(680℃,105Pa)兩點將二維坐標(biāo)圖分成兩個半?yún)^(qū),高溫且低壓的半?yún)^(qū)即為所述的高溫低壓工作區(qū)域。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的砷化鎵表面形貌控制方法,其特征在于,步驟1中,所述砷化鎵樣品為單晶砷化鎵襯底結(jié)構(gòu)或者是在其他絕緣體上形成的砷化鎵表面結(jié)構(gòu)。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的砷化鎵表面形貌控制方法,其特征在于,步驟1中,所述砷化鎵樣品的形狀為砷化鎵平面、砷化鎵納米線或者砷化鎵納米帶。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的砷化鎵表面形貌控制方法,其特征在于,步驟1中,所述氧分壓氣體為純氧氣或者氧氣和其它性質(zhì)穩(wěn)定氣體的混和氣體。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的砷化鎵表面形貌控制方法,其特征在于,所述其它性質(zhì)穩(wěn)定氣體是指化學(xué)性質(zhì)穩(wěn)定,在700℃以下不會和砷化鎵或者氧氣發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的氣體。
6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的砷化鎵表面形貌控制方法,其特征在于,所述其它性質(zhì)穩(wěn)定氣體為氮氣、氬氣、氦氣、氖氣或者上述氣體的混合氣體。
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H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉(zhuǎn)換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導(dǎo)體器件;專門適用于制造或處理這些半導(dǎo)體器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半導(dǎo)體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉(zhuǎn)換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內(nèi)或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發(fā)光光源在結(jié)構(gòu)上相連的,并與其電光源在電氣上或光學(xué)上相耦合的





