[發明專利]一種顯示屏測試電路

在審

• 申請號: 201611248382.5
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN106847141A
• 公開（公告）日: 2017-06-13
• 發明（設計）人: 黃效牛;吳曉麗;周妮;陳志雄
• 申請（專利權）人: 深圳市宇順電子股份有限公司;深圳市宇順工業智能科技有限公司;長沙市宇順顯示技術有限公司;廣東金倫光電科技有限公司
• 主分類號: G09G3/00
• 分類號: G09G3/00
• 代理公司: 北京君泊知識產權代理有限公司11496
• 代理人: 王程遠

1.一種顯示屏測試電路，其特征在于，包括：自激振蕩電路(1)、第一電壓比較電路(2)、待測品ITO塊(3)、第二電壓比較電路(4)、開關電路(5)和報警器(6)；

所述自激振蕩電路(1)與所述第一電壓比較電路(2)連接，所述第一電壓比較電路(2)與所述待測品ITO塊(3)連接，所述待測品ITO塊(3)與所述第二電壓比較電路(4)連接，所述第二電壓比較電路(4)與所述開關電路(5)連接，所述開關電路(5)與所述報警器(6)連接；

所述自激振蕩電路(1)產生頻率可調的正弦波，所述正弦波經過所述第一電壓比較電路(2)產生與所述自激振蕩電路(1)對應頻率的方波，所述第一電壓比較電路(2)的方波輸出給所述待測品ITO塊(3)，所述待測品ITO塊(3)為顯示屏玻璃ITO塊與地之間的寄生電容，所述方波對該寄生電容進行充放電，所述第二電壓比較電路(4)比較所述寄生電容兩端的電壓，當電壓達到設定值，所述開關電路(5)打開或關閉所述報警器(6)。

2.根據權利要求1所述的顯示屏測試電路，其特征在于，所述自激振蕩電路(1)包括運算放大器IC2、電阻R7、電阻R8、電阻R9、電阻R10、電阻R11、可調電阻VR1、電容C2和電容C3，所述運算放大器IC2第二管腳與地之間串聯所述電阻R10，所述運算放大器IC2第二管腳與所述運算放大器IC2第六管腳之間串聯所述電阻R11，所述電阻R7與所述電容C2并聯后串聯在所述運算放大器IC2第三管腳和地之間，所述電阻R8與所述可調電阻VR1串聯后再與所述電阻R9并聯組成可調電阻組合，可調電阻組合與所述電容C3串聯后連接在所述運算放大器IC2第三管腳和所述運算放大器IC2第六管腳之間，所述運算放大器IC2第三管腳和所述運算放大器IC2第六管腳之間形成一個正反饋通道，使電路自激振蕩，所述運算放大器IC2第六管腳輸出正弦波。

3.根據權利要求2所述的顯示屏測試電路，其特征在于，所述正弦波的頻率通過所述可調電阻VR1調整。

4.根據權利要求1所述的顯示屏測試電路，其特征在于，所述第一電壓比較電路(2)包括運算放大器IC3、電阻R3、電阻R4、電阻R5、電阻R6、場效應管T1和場效應管T2，所述運算放大器IC3第二管腳接在所述電阻R5和所述電阻R6之間，所述電阻R5和所述電阻R6串聯組成一個分壓電路，所述運算放大器IC3為比較型運算放大器，當所述運算放大器IC2第六管腳的電壓高于所述運算放大器IC3第二管腳的電壓時，所述運算放大器IC3第六管腳輸出高電平，當所述運算放大器IC2第六管腳的電壓低于或等于所述運算放大器IC3第二管腳的電壓時，所述運算放大器第六管腳輸出低電平，產生與所述正弦波頻率對應的方波；所述場效應管T1的源極與所述場效應管T2的漏極連接，所述場效應管T1和所述場效應管T2的柵極一起連接到所述運算放大器第六管腳，所述場效應管T1的漏極串聯所述電阻R4后接電源Vpp，所述場效應管T2的源極串聯所述電阻R3后接地，所述場效應管T1和所述場效應管T2同時只有一個導通，另一個截止。

5.根據權利要求4所述的顯示屏測試電路，其特征在于，所述場效應管T1為增強型場效應管，所述場效應管T2為耗散型場效應管。

6.根據權利要求1所述的顯示屏測試電路，其特征在于，所述待測品ITO塊(3)包括電容Cs和電容Cx，當所述運算放大器第六管腳輸出高電平時，所述場效應管T1導通，所述場效應管T2截止，所述電源Vpp通過所述電阻R4、所述場效應管T1給電容Cx和電容Cs充電，當所述運算放大器第六管腳輸出低電平時，所述場效應管T1截止，所述場效應管T2導通，所述電容Cx和所述電容Cs的電壓通過所述場效應管T2、所述電阻R3放電。

7.根據權利要求1所述的顯示屏測試電路，其特征在于，所述電容Cs是容值在1nF-1uF之間的存儲電容。