[發明專利]GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池的制備方法在審
| 申請號: | 201611247545.8 | 申請日: | 2016-12-30 |
| 公開(公告)號: | CN108269874A | 公開(公告)日: | 2018-07-10 |
| 發明(設計)人: | 尹曉雪 | 申請(專利權)人: | 西安科銳盛創新科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/0725 | 分類號: | H01L31/0725;H01L31/0735;H01L31/18 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 710065 陜西省西安市高新區高新路86號*** | 國省代碼: | 陜西;61 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 三結太陽能電池 外延層 制備 襯底 氧化層 干法刻蝕工藝 磁控濺射法 工藝制備 橫向結晶 晶格失配 晶化 刻蝕 位錯 生長 | ||
1.一種GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池的制備方法,其特征在于,包括:
(a)選取Si襯底;
(b)利用磁控濺射法,在所述Si襯底上形成Ge外延層;
(c)利用CVD方法,在所述Ge外延層上形成氧化層;
(d)利用LRC工藝對所述Ge外延層進行晶化;
(e)利用干法刻蝕工藝刻蝕所述氧化層;
(f)利用MOCVD工藝,在所述Ge外延層上形成GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池層,以完成所述GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池的制備。
2.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述步驟(d)包括:
(d1)用激光照射帶有所述氧化層的所述Ge外延層直到所述Ge外延層升溫到第一溫度,在所述第一溫度下,所述激光照射部分的所述Ge外延層為熔融態且與其接觸的所述氧化層和所述Si襯底為非熔融態;
(d2)移除激光并使照射部分的所述Ge外延層冷卻以結晶;
(d3)連續采用激光照射全部所述Ge外延層并冷卻晶化直到全部所述Ge外延層都被晶化。
3.根據權利要求2所述的制備方法,其特征在于,所述氧化層為SiO2層,所述LRC工藝參數為:激光功率為6.1kW/m,激光移動速度為400mm/min,所述第一溫度為500K。
4.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,所述步驟(f)包括:
(f1)利用MOCVD工藝在所述Ge外延層上形成Ge底電池;
(f2)利用MOCVD工藝在所述Ge底電池上形成第一隧道結;
(f3)利用MOCVD工藝在所述第一隧道結上形成GaAs中電池;
(f4)利用MOCVD工藝在所述GaAs中電池上形成第二隧道結;
(f5)利用MOCVD工藝在所述第二隧道結上形成In0.49Ga0.51P頂電池。
5.根據權利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述第一隧道結為p+-Al0.3Ga0.7As/n+-GaAs隧道結。
6.根據權利要求4所述的制備方法,其特征在于,所述第二隧道結為p+-GaAs/n+-GaAs隧道結。
7.根據權利要求1所述的制備方法,其特征在于,在所述Ge外延層上形成GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池層之后,還包括:
(x1)在所述太陽能電池層上分別形成接觸層和減反射膜;
(x2)形成接觸電極。
8.根據權利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述接觸電極包括位于所述Si襯底底部的負電極和位于所述接觸層上的正電極。
9.根據權利要求7所述的制備方法,其特征在于,所述減反射膜材料為MgF2/ZnS。
10.一種GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池,其特征在于,所述GaInP2/GaAs/Ge三結太陽能電池由權利要求1~9任一項所述的方法制備形成。
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H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





