[發(fā)明專利]攝像裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611242646.6
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN107026961B
• 公開（公告）日: 2021-02-12
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宍戸三四郎;村上雅史;西村佳壽子
• 申請（專利權(quán)）人: 松下知識產(chǎn)權(quán)經(jīng)營株式會社
• 主分類號: H04N5/225
• 分類號: H04N5/225
• 代理公司: 永新專利商標(biāo)代理有限公司 72002
• 代理人: 徐殿軍;蔣巍

1.一種攝像裝置，具有：

半導(dǎo)體基板；

第1攝像單元，包括所述半導(dǎo)體基板內(nèi)的第1光電變換部、和一端與所述第1光電變換部電連接的第1電容元件；以及

第2攝像單元，包括所述半導(dǎo)體基板內(nèi)的第2光電變換部，

所述第1攝像單元和所述第2攝像單元彼此相鄰，

所述半導(dǎo)體基板在所述第1光電變換部和所述第2光電變換部之間包含溝槽分離構(gòu)造，

在俯視觀察時，所述第2光電變換部的面積大于所述第1光電變換部的面積，

所述第1電容元件在俯視觀察時至少一部分與所述溝槽分離構(gòu)造重疊。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

所述第1攝像單元還包括與所述第1光電變換部電連接的第1電荷檢測電路，

所述第2攝像單元還包括與所述第2光電變換部電連接的第2電荷檢測電路。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的攝像裝置，

所述第1電荷檢測電路包括源極及漏極中一方與所述第1光電變換部電連接的第1復(fù)位晶體管，

所述第2電荷檢測電路包括源極及漏極中一方與所述第2光電變換部電連接的第2復(fù)位晶體管。

4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的攝像裝置，

所述第1攝像單元具有源極及漏極中一方與所述第1光電變換部電連接的第1傳輸晶體管，

所述第1電荷檢測電路包括：

第1浮動擴散體，與所述第1傳輸晶體管的所述源極及所述漏極中另一方電連接；以及

第1復(fù)位晶體管，源極及漏極中一方與所述第1浮動擴散體電連接。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的攝像裝置，

所述第2攝像單元具有源極及漏極中一方與所述第2光電變換部電連接的第2傳輸晶體管，

所述第2電荷檢測電路包括：

第2浮動擴散體，與所述第2傳輸晶體管的所述源極及所述漏極中另一方電連接；以及

第2復(fù)位晶體管，源極及漏極中一方與所述第2浮動擴散體電連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

所述第2攝像單元包括：

傳輸晶體管，源極及漏極中一方與所述第2光電變換部電連接；以及

浮動擴散體，與所述傳輸晶體管的所述源極及所述漏極中另一方電連接。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

所述第1攝像單元還包括源極及漏極中一方與所述第1光電變換部電連接的第1傳輸晶體管，

所述第2攝像單元還包括源極及漏極中一方與所述第2光電變換部電連接的第2傳輸晶體管，

所述第1攝像單元及第2攝像單元包括浮動擴散體，該浮動擴散體與所述第1傳輸晶體管的所述源極及所述漏極中另一方和所述第2傳輸晶體管的所述源極及所述漏極中另一方這雙方電連接。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的攝像裝置，

所述第1攝像單元及第2攝像單元還包括源極及漏極中一方與所述浮動擴散體電連接的復(fù)位晶體管。

9.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

所述第2攝像單元沒有電容元件。

10.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

在俯視觀察時，所述第2光電變換部的形狀與所述第1光電變換部的形狀不同。

11.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

所述第1攝像單元還具有位于所述第1光電變換部的光入射側(cè)的第1微透鏡，

所述第2攝像單元還具有位于所述第2光電變換部的光入射側(cè)的第2微透鏡，

所述第2微透鏡的聚光面積大于所述第1微透鏡的聚光面積。

12.根據(jù)權(quán)利要求1所述的攝像裝置，

所述第1攝像單元及第2攝像單元還包括位于所述第1光電變換部及第2光電變換部的光入射側(cè)的共用的微透鏡，

所述第2光電變換部位于所述微透鏡的光軸上。