[發明專利]一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的檢測系統及方法

在審

• 申請號: 201611241054.2
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106771924A
• 公開（公告）日: 2017-05-31
• 發明（設計）人: 祝永坤;孫廣;高樹永;崔士剛;史文江;許大鵬;于明星
• 申請（專利權）人: 國網內蒙古東部電力有限公司檢修分公司;國網內蒙古東部電力有限公司;國家電網公司
• 主分類號: G01R31/12
• 分類號: G01R31/12
• 代理公司: 湖北武漢永嘉專利代理有限公司42102
• 代理人: 張惠玲

1.一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的檢測系統，其特征在于：包括光電場傳感器(1)、升降平臺(2)和電場測量儀(3)，所述光電場傳感器(1)安裝在所述升降平臺(2)上并與所述電場測量儀(3)連接，且所述光電場傳感器(1)布置在絕緣子串(4)的周圍。

2.根據權利要求1所述的一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的檢測系統，其特征在于：所述升降平臺(2)包括絕緣環(5)、絕緣桿(6)和絕緣繩(7)，所述絕緣環(5)固定在所述絕緣桿(6)的頂端，所述絕緣繩(7)的一端穿過所述絕緣環(5)并與所述光電場傳感器(1)連接。

3.根據權利要求2所述的一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的檢測系統，其特征在于：所述光電場傳感器(1)的探頭到絕緣子串(4)中的各片絕緣子傘裙邊緣的距離相同。

4.根據權利要求1～3中任意一項所述的一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的檢測系統，其特征在于：所述光電場傳感器(1)同時測量絕緣子串(4)周圍在X、Y和Z三個方向的電場值以及合成X、Y和Z三個方向的電場值。

5.一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的方法，其特征在于：包括以下步驟：

1)在絕緣子串(4)周圍布置光電場傳感器(1)；

2)沿絕緣子串(4)移動光電場傳感器(1)，并記錄光電場傳感器(1)在絕緣子串(4)周圍多個預設點測得的電場值；

3)根據多個預設點的電場值判斷絕緣子串(4)中絕緣子的缺陷情況。

6.根據權利要求5所述的一種利用光電場傳感器檢測絕緣子缺陷的方法，其特征在于：所述步驟2具體為，

2.1)確認光電場傳感器(1)在絕緣子串(4)周圍布置無誤；

2.2)將光電場傳感器(1)的探頭對準絕緣子串(4)高壓端的第一片絕緣子傘裙，并沿絕緣子串(4)的高壓端到低壓端移動光電場傳感器(1)，并依次記錄光電場傳感器(1)在多個預設點測量的第一電場值；

2.3)沿絕緣子串(4)的低壓端到高壓端移動光電場傳感器(1)，并依次記錄光電場傳感器(1)在多個預設點測量的第二電場值；

2.4)將多個預設點的第一電場值分別與對應預設點的第二電場值進行平均計算，得到多個預設點的電場值。

7.根據權利要求6所述的一種利用光電場傳感器(1)檢測絕緣子缺陷的方法，其特征在于：所述步驟2.1具體為：

2.1)將光電場傳感器(1)移動到絕緣子串(4)的高壓端處，觀察絕緣子串(4)的高壓端是否有放電或者異常電暈現象，若沒有放電或者異常電暈現象，則光電場傳感器(1)在絕緣子串(4)周圍布置無誤。

8.根據權利要求5～7中任一項所述的一種利用光電場傳感器(1)檢測絕緣子缺陷的方法，其特征在于：所述步驟3具體為：

3)根據多個預設點的電場值繪制絕緣子串(4)周圍電場強度分布曲線，判斷絕緣子串(4)中絕緣子的缺陷情況，所述絕緣子串(4)周圍電場強度分布曲線為絕緣子串(4)空間軸向的電場變化率曲線。

9.根據權利要求8中所述的一種利用光電場傳感器(1)檢測絕緣子缺陷的方法，其特征在于：所述步驟3具體為：

3)根據多個預設點的電場值繪制絕緣子串(4)周圍電場強度分布曲線，判斷絕緣子串(4)中絕緣子的缺陷情況，所述絕緣子串(4)周圍電場強度分布曲線為絕緣子串(4)空間軸向的電場變化率曲線，將多個預設點的電場值利用有限元仿真計算方法對絕緣子串(4)的電場分布規律進行仿真分析，判斷絕緣子串(4)中絕緣子的缺陷情況。

10.根據權利要求9中所述的一種利用光電場傳感器(1)檢測絕緣子缺陷的方法，其特征在于：所述預設點的個數為13個。