[發明專利]薄儲層地震準確描述方法

在審

• 申請號: 201611240442.9
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106597547A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 張明振;王興謀;陳先紅;石曉光;林德猛
• 申請（專利權）人: 中國石油化工股份有限公司;中國石油化工股份有限公司勝利油田分公司物探研究院
• 主分類號: G01V1/30
• 分類號: G01V1/30
• 代理公司: 濟南日新專利代理事務所37224
• 代理人: 劉亞寧

技術領域

本發明屬于地球物理勘探地震資料解釋技術領域，主要是儲層地震描述技術中的一種薄儲層地震準確描述方法。

背景技術

儲層地震描述是油氣勘探開發中的重要技術，影響著地下儲層的描述精度。我國東部的陸相沉積儲層厚度一般小于1/4地震波長，儲層的地震反射波具有干涉現象，對儲層的反映具有明顯的不確定性。這種不確定性表現在相同物性的儲層隨厚度的變化，其地震反射波的振幅、頻率、相位均發生變化，影響了對儲層幾何特征的描述。

針對薄儲層地震描述問題，研究者進行了多方面的嘗試。李慶忠(1993)在走向高精度勘探的道路中提出追蹤砂層必須用波阻抗剖面或積分地震道。凌云研究組(2003)應用振幅的調諧作用探測地層厚度小于1/4波長地質目標，(2004)地震分辨率極限問題的研究，提出薄層的識別和分辨問題。李國發、王亞靜等(2014)薄互層地震切片解釋中的幾個問題，闡述了薄互層的干涉特征，提出復合波視周期內均能檢測儲層，零值點處于儲層的中間，振幅屬性與儲層厚度正相關，可以預測儲層厚度。這些方法對于提高薄互層的識別精度都發揮了一定的作用，但對于砂體的縱向位置不準問題沒有討論，儲層頂面構造沒有準確的描述方法。本發明研究薄儲層地震反射的不確定性，形成了有效的準確描述方法。

發明內容

本發明的目的是：針對現存方法的不足之處，發明了一種薄儲層地震準確描述方法。該發明在模型地震正演和道積分基礎上研究薄儲層地震反射的不確定性，形成了道積分(生產中可用波阻抗反演)資料追蹤儲層、振幅信息描述厚度、儲層半厚度校正深度形成準確頂面構造的薄儲層地震準確描述方法，有效減小了薄儲層地震反射的不確定性對儲層幾何特征描述的影響。

本發明采用的技術方案如下。

薄儲層地震準確描述方法，其特征在于包括如下步驟：

步驟1：正演模擬，分析薄儲層地震反射波的不確定性特征；不確定性特征是波的一種特征。在目的地層的的厚度小于地震波長時，地層頂、底反射的地震波會發生干涉現象。地震波發生干涉后，波形特征與正常的相比在振幅、波形、頻率方面均發生變化。不發生干涉的地震波，其波峰所在的位置是地層的頂(或底)界面(現有技術方法的理論基礎)；而發生干涉的地震波，其波峰所在的位置偏離了實際地層的頂(或底)界面，產生了位置不確定性。

步驟2：對正演模擬的地震數據做道積分，分析薄儲層地震反射道積分的不確定性特征。由于地震反射波具有不確定性特征，地震反射道積分也具有不確定性特征。

步驟3：基于步驟1、步驟2的分析結果對地震薄儲層幾何特征描述。

作為優選技術方案，在步驟1中，所述分析正演模擬薄儲層地震反射波的不確定性特征是指：分析薄儲層地震反射波振幅與儲層厚度的關系、相位與儲層厚度的關系；對于薄儲層，由于在整個視波長內的反射均反映儲層特征，此時，振幅與儲層厚度正相關、相位隨厚度減小逐步偏離反射層，相位零值點處于儲層厚度中心；所述薄儲層是指儲層厚度不大于薄儲層頂底地震反射波的1/4波長的儲層；依據地震反射波振幅數據，通過正演模擬描述儲層的厚度。步驟1中雖然可以依據振幅與儲層厚度正相關、相位隨厚度減小逐步偏離反射層、相位零值點處于儲層厚度中心的特點，找到地震反射波的不確定性狀態下的儲層準確位置，但目前這一方法存在儲層縱向描述不準、描述儲層的厚度和位置需要追蹤相位的波峰和零值點兩步操作難以快速實現的缺點，因此，步驟1中，依據地震反射波振幅數據，通過正演模擬只描述儲層的厚度。

作為優選技術方案，在步驟2中，所述分析薄儲層地震反射道積分的不確定性特征是指：對正演模擬的地震數據做道積分，分析道積分數據的薄層反射不確定性特征，利用相位峰值點處于儲層厚度中心的特點，追蹤相位峰值點。

作為優選技術方案，在步驟3中，利用步驟2追蹤的相位峰值點追蹤波峰，由此，找到各波峰就可快速實現描述儲層的中心點，形成儲層不同厚度處的中心點的構造圖。

作為優選技術方案，在步驟3中，依據步驟2中獲得的描述儲層的厚度，求取儲層的厚度空間展布。

作為優選技術方案，在步驟3中，依據相位峰值點處于儲層厚度中心的特點，用儲層中心點的構造深度減去儲層半厚度，校正儲層的深度形成準確的頂面構造圖，所述儲層半厚度為儲層厚度的一半。

作為優選技術方案，在步驟2中，分析薄儲層地震反射道積分的不確定性特征時，可以用波阻抗資料代替道積分資料。