[發明專利]一種測量信號的溫度補償電路

有效

• 申請號: 201611240229.8
• 申請日: 2016-12-29
• 公開（公告）號: CN108254598B
• 公開（公告）日: 2021-08-17
• 發明（設計）人: 劉敬波;胡江鳴;劉俊秀;石嶺
• 申請（專利權）人: 深圳開陽電子股份有限公司
• 主分類號: G01R1/44
• 分類號: G01R1/44
• 代理公司: 暫無信息
• 代理人: 暫無信息

1.一種測量信號的溫度補償電路，其特征在于：包括測量信號取樣模塊，信號補償模塊、補償系數選擇模塊、溫度補償偏移模塊、補償曲線取樣模塊、正溫度系數輸出電壓產生模塊和負溫度系數輸出電壓產生模塊；

所述測量信號取樣模塊用于取樣輸入的測量電壓隨溫度的變化而產生的測量值，發送至信號補償模塊；

所述信號補償模塊用于根據所述測量值，判斷其正負特性，通過選擇控制信號控制補償系數選擇模塊選擇相反特性的校正電壓作為參考電壓輸出；以及判斷所述參考電壓能否補償所述測量電壓，若能，則輸出補償后的輸出電壓，否則設置溫度補償偏移模塊的偏移值，使參考電壓能夠補償所述測量電壓；

所述正溫度系數輸出電壓產生模塊用于產生隨溫度升高而升高的正特性電壓；

所述負溫度系數輸出電壓產生模塊用于產生隨溫度升高而降低的負特性電壓；

所述溫度補償偏移模塊用于根據所述信號補償模塊輸出的偏移值，調整所述正特性電壓和負特性電壓的值，生成正特性校正電壓和負特性校正電壓輸出到補償系數選擇模塊；

所述補償系數選擇模塊用于根據所述信號補償模塊輸出的選擇控制信號，選擇正特性校正電壓作為參考電壓輸出至信號補償模塊；或選擇負特性校正電壓作為參考電壓輸出至信號補償模塊；

所述補償曲線取樣模塊用于獲取所述參考電壓隨溫度變化而產生的取樣值，判斷其變化特性是否正確，若不正確則發送控制信號至所述信號補償模塊；所述信號補償模塊根據所述控制信號，調整所述偏移值。

2.如權利要求1所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述判斷所述參考電壓能否補償所述測量電壓具體包括：計算測量電壓和參考電壓的平均值，若該平均值等于常溫下的測量值時，則參考電壓可以補償所述測量電壓。

3.如權利要求2所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述否則設置溫度補償偏移模塊的偏移值具體包括：判斷所述計算測量電壓的參考電壓的平均值后，若該平均值小于常溫下的測量值，則加大所述偏移值；若該平均值大于常溫下的測量值，則減小所述偏移值。

4.如權利要求1所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述正溫度系數輸出電壓產生模塊和負溫度系數輸出電壓產生模塊在常溫下產生的正特性電壓和負特性電壓相等。

5.如權利要求2所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述溫度補償偏移模塊將所述正特性電壓和負特性電壓與所述偏移值相加生成正特性校正電壓和負特性校正電壓。

6.如權利要求1所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述補償曲線取樣模塊判斷變化特性不正確具體包括：判斷以所述正特性校正電壓作為參考電壓時，該參考電壓隨溫度的變化而產生的取樣值，若該取樣值的變化特征是負特性時，發送相應的控制信號至信號補償模塊，以調整偏移值，使該取樣值的變化特征是正特性的；

或者，

判斷以所述負特性校正電壓作為參考電壓時，取樣該參考電壓隨溫度的變化而產生的取樣值，若該取樣值的變化特征是正特性時，發送相應的控制信號至信號補償模塊，以調整偏移值，使該取樣值的變化特征是負特性的。

7.如權利要求1所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述信號補償模塊根據所述測量值隨溫度升高而升高，判斷所述測量電壓為正特性電壓；根據所述測量值隨溫度升高而降低，判斷所述測量電壓為負特性電壓。

8.如權利要求1所述的測量信號的溫度補償電路，其特征在于：所述溫度補償偏移模塊包括第一可變電壓調整單元、第二可變電壓調整單元和混合處理單元；

所述第一可變電壓調整單元用于根據所述偏移值對所述負特性電壓進行調整，生成負特性校正電壓輸出到混合處理單元；

所述第二可變電壓調整單元用于根據所述偏移值對所述正特性電壓進行調整，生成正特性校正電壓輸出到混合處理單元；

所述混合處理單元接收所述負特性校正電壓和正特性校正電壓，在常溫下使輸出的負特性校正電壓和正特性校正電壓數值相同，在其他溫度下直接輸出所述負特性校正電壓和正特性校正電壓。