[發明專利]一種快速判斷氣相沉積產品質量缺陷發生時間的方法在審
| 申請號: | 201611238656.2 | 申請日: | 2016-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN106835061A | 公開(公告)日: | 2017-06-13 |
| 發明(設計)人: | 任小紅;吳鋒;高云龍;曹忠;姜海明 | 申請(專利權)人: | 內蒙古神舟硅業有限責任公司 |
| 主分類號: | C23C14/54 | 分類號: | C23C14/54;C23C16/52;G06F19/00 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 010070 內蒙古自*** | 國省代碼: | 內蒙古;15 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 快速 斷氣 沉積 產品質量 缺陷 發生 時間 方法 | ||
1.一種快速判斷氣相沉積產品質量缺陷發生時間的方法,其特征在于,其包括如下步驟:(1)確定樣品沉積速率方程;(2)確定一般氣相沉積反應的速率方程;(3)積分得到氣相沉積厚度方程;(4)求得未知修正比例系數a;(5)解得質量缺陷發生時間;其中,
(1)確定樣品沉積速率方程:通過對整個生產周期的沉積速率進行計算,得到生產周期內每小時所述沉積速率的數據后,應根據所述沉積速率繪制出產品的沉積速率曲線,通過數據處理軟件對所述沉積速率曲線進行擬合,可以得到檢測樣品的所述沉積速率隨時間變化的樣品沉積速率方程,設所述樣品沉積速率方程為y=f(t);
(2)確定一般氣相沉積反應的速率方程:同一企業,氣相沉積反應設備雖然型號相同,但因所述氣相沉積反應設備表面反射率、儀表檢測的差異,每臺所述氣相沉積反應設備在相同的時間內沉積速度有微小的不同,但通過實踐檢驗,所述氣相沉積反應設備情況的影響對整個沉積過程的影響均相似,引入所述氣相沉積反應設備對沉積過程影響的修正比例系數a,得出一般氣相沉積反應速率方程y=f(at);
(3)積分得到氣相沉積厚度方程:對所述一般氣相沉積反應速率方程y=f(at)進行積分,即為氣相沉積厚度方程對積分式進行求解,可解得包含未知常量a的沉積厚度h隨變量時間t變化的氣相沉積厚度方程;
(4)求得未知修正比例系數a:測量沉積總厚度h總,并將測得的所述沉積總厚度h總和沉積總時間t總代入所述氣相沉積厚度方程中求解,解得未知修正比例系數a;
(5)解得質量缺陷發生時間:通過對氣相沉積產品截面進行質量檢測,鎖定質量缺陷點的位置,然后測量質量缺陷點處沉積厚度h缺陷,將質量缺陷點處的所述沉積厚度h缺陷及所述修正比例系數a代入所述氣相沉積厚度方程,對等式進行求解,即可解得質量缺陷發生時間t缺陷。
2.根據權利要求1所述的一種快速判斷氣相沉積產品質量缺陷發生時間的方法,其特征在于,所述數據處理軟件為origin軟件。
3.根據權利要求1或2所述的一種快速判斷氣相沉積產品質量缺陷發生時間的方法,其特征在于,在所述步驟(5)之后還包括有對求得的所述質量缺陷發生時間t缺陷的驗證步驟,重復所述步驟(5),對經歷質量缺陷發生時間的不同樣品進行檢測計算,求得不同樣品的所述質量缺陷發生時間t缺陷,并對求得的所述質量缺陷發生時間t缺陷進行比較,當不同樣品計算出的所述質量缺陷發生時間t缺陷接近時,即可確定所述步驟(5)計算得到的所述質量缺陷發生時間t缺陷真實準確。
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