[發明專利]一種用于HDMI接口的測試裝置及測試方法有效
| 申請號: | 201611238488.7 | 申請日: | 2016-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN106657986B | 公開(公告)日: | 2019-04-23 |
| 發明(設計)人: | 高劍;馮建科;郭士瑞;袁科學;蔣常斌;李杰 | 申請(專利權)人: | 北京自動測試技術研究所 |
| 主分類號: | H04N17/00 | 分類號: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 北京汲智翼成知識產權代理事務所(普通合伙) 11381 | 代理人: | 陳曦 |
| 地址: | 100088 北京市海淀*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 用于 hdmi 接口 測試 裝置 方法 | ||
1.一種用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于包括解碼模塊、功能測試模塊、邏輯判斷模塊和集成電路測試儀;
其中,所述邏輯判斷模塊分別與所述解碼模塊、所述功能測試模塊和所述集成電路測試儀相連接;所述集成電路測試儀與被測器件相連,實現被測器件內部指令存儲器、寄存器的測試;
所述集成電路測試儀將測試命令傳給所述邏輯判斷模塊,所述邏輯判斷模塊從集成電路測試儀中獲取配置測試碼產生測試數據,當所述邏輯判斷模塊接收到集成電路測試儀的啟動測試碼時,將測試數據發送到被測器件,所述被測器件將產生的HDMI信號發送到解碼模塊;所述解碼模塊用于將接收的HDMI信號解碼成低速信號,并將所述低速信號發送到所述功能測試模塊進行測試。
2.如權利要求1所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述功能測試模塊包括鎖相環高速信號產生器、數據分配電路、模式選擇電路、校驗電路和比較電路;
其中,所述數據分配電路連接所述模式選擇電路,所述模式選擇電路的輸出端連接所述校驗電路,所述校驗電路輸出端連接所述比較電路。
3.如權利要求2所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述鎖相環高速信號產生器用以產生高速時鐘,連接解碼模塊,用于給解碼模塊發送時鐘信號。
4.如權利要求2所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述模式選擇電路為1個2選1電路和1個4路輸出選擇器,分別用于選擇校驗模式和校驗通道數。
5.如權利要求2所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述校驗電路包含3路奇偶校驗校驗或循環冗余校驗,由所述模式選擇電路確定校驗電路的類型。
6.如權利要求2所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述比較電路用于將校驗電路傳輸的輸出值與預先保存在結果存儲器中的理論值進行比較,并將比較結果傳輸到所述邏輯判斷模塊。
7.如權利要求1所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述集成電路測試儀通過測試通道接收比較電路和邏輯判斷模塊的輸出結果;
所述集成電路測試儀通過電源和控制通道與解碼模塊連接,進行所述解碼模塊內部寄存器的測試;
所述集成電路測試儀與所述功能測試模塊連接,進行功能測試模塊中各電路的初始化操作。
8.如權利要求1所述的用于HDMI接口的測試裝置,其特征在于:
所述邏輯判斷模塊通過串行總線連接解碼模塊,完成對所述解碼模塊寄存器的配置;
所述邏輯判斷模塊與所述集成電路測試儀相連,接收所述集成電路測試儀的指令,并對所述指令進行解碼;
所述邏輯判斷模塊與所述功能測試模塊相連接,完成對校驗電路的配置和對測試結果的判斷。
9.一種用于HDMI接口的測試方法,采用權利要求1所述的用于HDMI接口的測試裝置實現,其特征在于包括如下步驟:
S 1,從集成電路測試儀中獲取配置測試碼,按照指定時序為解碼模塊設置寄存器;
S2,當解碼模塊寄存器設置正常時,邏輯判斷模塊產生測試數據;
S3,當邏輯判斷模塊接收到啟動測試碼時,將測試數據發送到被測器件,所述被測器件將產生的HDMI信號發送到解碼模塊,所述解碼模塊將HDMI信號解碼成低速信號;
S4,解碼模塊將解碼的低速信號發送到功能測試模塊,進行測試操作,并將產生的結果與預存的理論運行結果進行比較,得出測試結果。
10.如權利要求9所述的用于HDMI接口的測試方法,其特征在于在步驟S4中,所述將產生的結果與預存的理論運行結果進行比較,得出測試結果,進一步包括如下步驟:
S41,當校驗電路未能按時發送校驗完成信號時,比較電路將測試完成信號置低,發送給集成電路測試儀,測試失敗;
S42,當校驗電路按時發送校驗完成信號時,將各路校驗電路的輸出值與預存的理論運行結果進行比較,當二者不同時,啟動內部計數器完成加1操作;
S43,重復步驟S42,直至解碼的低速信號全部操作完成,將內部計數器計數值發送到邏輯判斷模塊;
S44,邏輯判斷模塊將內部計數器計數值與給定的容差值進行比較,當內部計數器計數值小于容差值時,將測試成功的信息發送給集成電路測試儀;當內部計數器計數值大于等于容差值時,將比較電路將內部計數器計數值以及測試失敗的信息返回給集成電路測試儀。
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