[發明專利]光纖量子密鑰分配系統中光電子器件高精度溫度檢測裝置

有效

• 申請號: 201611238414.3
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106610322B
• 公開（公告）日: 2023-08-01
• 發明（設計）人: 徐煥銀;劉云;苗春華;黃敦鋒;劉夢婕;呂利影
• 申請（專利權）人: 安徽問天量子科技股份有限公司
• 主分類號: G01K7/22
• 分類號: G01K7/22;G01K11/32
• 代理公司: 江蘇斐多律師事務所 32332
• 代理人: 王長征

1.一種光纖量子密鑰分配系統中光電子器件高精度溫度檢測裝置，其特征在于：包括偏置電壓源P1、熱敏電阻RT、溫漂數模轉換芯片U2、間接電流反饋儀表放大器U1和模數轉換芯片U3；

熱敏電阻RT一端通過固定阻值電阻R1連接偏置電壓源P1，另一端接地；熱敏電阻RT遠地端還與間接電流反饋儀表放大器U1連接，溫漂數模轉換芯片U2和模數轉換芯片U3分別與間接電流反饋儀表放大器U1連接；

間接電流反饋儀表放大器U1包含放大器C、跨導放大器A和跨導放大器B；跨導放大器A和跨導放大器B分別用于將輸入差分電壓轉換成輸出電流，并抑制所有的輸入共模電壓；當間接電流反饋儀表放大器U1穩定工作時，跨導放大器A的輸出電流與跨導放大器B的輸入電流相等，即通過高增益放大器C的反饋實現跨導放大器A的輸出電流和跨導放大器B的輸入電流的匹配，同時使得跨導放大器B輸入端的差分電壓與跨導放大器A的輸入差分電壓相同；間接電流反饋儀表放大器U1還包含兩級輸出，第一級輸出是跨導放大器B的輸入差分電壓，第二級輸出是高增益放大器C的輸出電壓，即為間接電流反饋儀表放大器U1的最終輸出電壓。

2.根據權利要求1所述的光纖量子密鑰分配系統中光電子器件高精度溫度檢測裝置，其特征在于：在跨導放大器B的REF引腳加上一個任意的參考電壓Vref，從而為輸出電壓提供偏置，此時Vout＝Av*Vdiff+Vref；參考電壓Vref由外置的參考電壓源P2提供，外置的參考電壓源P2一端連接跨導放大器B的REF，另一端接地；Vout是放大器C的輸出電壓，Vdiff是跨導放大器A的輸入差分電壓，增益是放大器C的增益。