[發明專利]基于核互模態因素分析核融合的多光譜圖像變化檢測方法

有效

• 申請號: 201611237215.0
• 申請日: 2016-12-28
• 公開（公告）號: CN106855947B
• 公開（公告）日: 2020-02-21
• 發明（設計）人: 李明;譚嘯峰;張鵬;賈璐;吳艷
• 申請（專利權）人: 西安電子科技大學
• 主分類號: G06K9/00
• 分類號: G06K9/00;G06K9/34;G06K9/62
• 代理公司: 陜西電子工業專利中心 61205
• 代理人: 王品華;朱紅星

1.一種基于核互模態因素分析核融合的多光譜圖像變化檢測方法，包括如下步驟：

1)給定原始的預處理后的三通道的相同尺寸兩時刻光譜圖像，記為{R_t,G_t,B_t}，t＝t₀,t₁，其中，R_t,G_t,B_t分別表示原RGB空間中的三通道光譜圖像，使用RGB-HIS變換將該三通道圖像變換至HIS空間，得到HIS通道的兩時刻光譜圖像{H_t,I_t,S_t}，其中H_t為t時刻光譜圖像的色調分量，S_t為t時刻光譜圖像的飽和度分量，I_t為t時刻光譜圖像的強度分量；

2)利用t₀,t₁兩時刻光譜圖像的色調飽和度和強度分量，提取光譜圖像特征；

2a)分別提取分量光譜圖像的灰度值和分量光譜圖像的灰度值，將其堆砌成兩時刻光譜圖像的顏色特征和

2b)提取強度分量光譜圖像的灰度特征和紋理特征將其堆砌成強度紋理特征

3)利用兩時刻光譜圖像的顏色特征求取顏色差值核函數矩陣K_Col；

4)利用兩時刻光譜圖像的強度紋理特征求取強度紋理差值核函數矩陣K_ST；

5)利用基于核互模態因素分析算法KCFA分別求取顏色差值核函數矩陣K_Col的權重系數w_c和強度紋理差值核函數矩陣K_ST的權重系數w_s；

6)利用步驟5)、步驟4)和步驟3)的結果，構造合成核函數矩陣K_F：K_F＝w_c·K_Col+w_s·K_ST；

7)將步驟6)得到的合成核函數矩陣K_F輸入到支持向量機SVM中進行檢測，得到二值變化檢測結果，即完成對多光譜圖像的變化檢測。

2.根據權利要求1所述的方法，其中步驟2a)中堆砌t₀時刻顏色特征和t₁時刻顏色特征表示如下：

其中，和分別為提取出的t₀時刻圖像色調分量的灰度值和光譜圖像飽和度分量的灰度值；和分別為提取出的t₁時刻光譜圖像色調分量的灰度值和光譜圖像飽和度分量的灰度值。

3.根據權利要求1所述的方法，其中步驟2b)中堆砌t₀時刻強度紋理特征和t₁時刻強度紋理特征表示如下：

其中和分別表示t₀時刻光譜圖像強度分量的灰度值和t₁時刻光譜圖像強度分量的灰度值；和分別表示t₀時刻光譜圖像的強度分量的紋理特征和t₁時刻光譜圖像的強度分量的紋理特征。