[發明專利]一種太陽能電池及其電池背拋光工藝在審
| 申請號: | 201611236793.2 | 申請日: | 2016-12-28 |
| 公開(公告)號: | CN106653948A | 公開(公告)日: | 2017-05-10 |
| 發明(設計)人: | 李璐;孫杰;高楊;羅小剛;高慧慧;杜靈 | 申請(專利權)人: | 江西瑞晶太陽能科技有限公司 |
| 主分類號: | H01L31/18 | 分類號: | H01L31/18;H01L21/02;H01L21/306;H01L31/042 |
| 代理公司: | 北京超凡志成知識產權代理事務所(普通合伙)11371 | 代理人: | 吳開磊 |
| 地址: | 338019 江西省新余市下*** | 國省代碼: | 江西;36 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 一種 太陽能電池 及其 電池 拋光 工藝 | ||
1.一種太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,其包括:
將硅片于15~35℃的刻蝕液中浸泡100~150s進行刻蝕處理,所述刻蝕液由質量分數為65~68%的HNO3和質量分數為48~49%的HF按照體積比5~5.5:1混合而成;以及將刻蝕處理后的硅片置于20~30℃的堿液和/或酸液中進行清洗70~100s,再用水清洗處理后的所述硅片。
2.根據權利要求1所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述刻蝕液中所述HNO3的含量為43~45wt%,所述刻蝕液中所述HF的含量為8~9wt%。
3.根據權利要求2所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述刻蝕液中還含有H2SO4,所述H2SO4與所述HNO3的體積比為0.3~0.5:1。
4.根據權利要求2所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,進行刻蝕處理時,所述刻蝕液放置在刻蝕槽中,所述刻蝕槽的總體積為360~400L,所述刻蝕槽的長度為2~2.4m。
5.根據權利要求4所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述硅片以0.95~1.05m/min的速度通過所述刻蝕槽。
6.根據權利要求1所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述硅片在經過刻蝕處理后,先將所述硅片置于20~30℃的堿液中浸泡20~25s,將浸泡后的所述硅片用水漂洗后,再將所述硅片置于15~30℃的酸液中浸泡70~100s,再用所述水漂洗所述硅片。
7.根據權利要求1所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述堿液中的堿為NaOH或KOH,所述堿的含量為5~6wt%。
8.根據權利要求1所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述酸液中的酸為HF或HNO3,所述酸的含量為8~10wt%。
9.根據權利要求1所述的太陽能電池背拋光工藝,其特征在于,所述堿液放置于堿槽中,所述酸液放置于酸槽中,所述堿槽的長度為0.3~0.5m,酸槽的長度為1.5~1.8m,所述硅片在經過刻蝕處理后,以1.1~1.2m/min的速度通過所述堿槽或酸槽。
10.一種太陽能電池,其特征在于,所述太陽能電池的電池背采用權利要求1~9任一項所述的太陽能電池背拋光工藝加工得到。
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H01L31-00 對紅外輻射、光、較短波長的電磁輻射,或微粒輻射敏感的,并且專門適用于把這樣的輻射能轉換為電能的,或者專門適用于通過這樣的輻射進行電能控制的半導體器件;專門適用于制造或處理這些半導體器件或其部件的方法或
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H01L31-0248 .以其半導體本體為特征的
H01L31-04 .用作轉換器件的
H01L31-08 .其中的輻射控制通過該器件的電流的,例如光敏電阻器
H01L31-12 .與如在一個共用襯底內或其上形成的,一個或多個電光源,如場致發光光源在結構上相連的,并與其電光源在電氣上或光學上相耦合的





