[發(fā)明專利]位置檢測裝置、位置檢測系統(tǒng)以及位置檢測方法在審
| 申請?zhí)枺?/td> | 201611234312.4 | 申請日： | 2016-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN107037893A | 公開（公告）日： | 2017-08-11 |
| 發(fā)明（設計）人： | B·莫薩克哈尼;田中健兒 | 申請（專利權(quán)）人： | 精工愛普生株式會社 |
| 主分類號： | G06F3/0354 | 分類號： | G06F3/0354 |
| 代理公司： | 北京三友知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司11127 | 代理人： | 李輝,鄧毅 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
| 權(quán)利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關(guān)鍵詞： | 位置 檢測 裝置 系統(tǒng) 以及 方法 | ||
1.一種位置檢測裝置，其檢測自發(fā)光指示體在操作面上指示的指示位置，
所述位置檢測裝置具有：
攝像部，其拍攝所述自發(fā)光指示體在所述操作面上發(fā)出的光而生成拍攝圖像；
檢測部，其根據(jù)所述拍攝圖像檢測所述自發(fā)光指示體的所述指示位置；以及
校正部，其使用根據(jù)末端偏移而確定的校正值對所述指示位置進行校正，所述末端偏移是所述自發(fā)光指示體接觸所述操作面的接觸位置與所述自發(fā)光指示體的發(fā)光位置之間的距離，
所述校正部使用根據(jù)所述操作面上的位置而不同的校正值來校正所述指示位置。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的位置檢測裝置，其中，
所述校正部使用根據(jù)所述操作面上的位置與所述攝像部至所述操作面的距離而不同的校正值來校正所述指示位置。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的位置檢測裝置，其中，
所述校正部使用以所述操作面上的坐標和所述攝像部至所述操作面的距離為變量的函數(shù)來確定所述校正值。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的位置檢測裝置，其中，
所述函數(shù)是以所述操作面上的坐標和所述攝像部至所述操作面的距離為變量而給出所述末端偏移的函數(shù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求1～4中的任一項所述的位置檢測裝置，其中，
所述位置檢測裝置還具有投影部，該投影部將圖像投射到所述操作面上。
6.一種位置檢測系統(tǒng)，其中，所述位置檢測系統(tǒng)具有：
權(quán)利要求1～5中的任一項所述的位置檢測裝置；和
所述自發(fā)光指示體。
7.一種位置檢測方法，檢測自發(fā)光指示體在操作面上所指示的指示位置，所述位置檢測方法包括下述步驟：
步驟(a)拍攝所述自發(fā)光指示體在所述操作面上發(fā)出的光而生成拍攝圖像；
步驟(b)根據(jù)所述拍攝圖像檢測所述自發(fā)光指示體的所述指示位置；以及
步驟(c)使用根據(jù)末端偏移而確定的校正值對所述指示位置進行校正，所述末端偏移是所述自發(fā)光指示體接觸所述操作面的接觸位置與所述自發(fā)光指示體的發(fā)光位置之間的距離，
在所述步驟(c)中，使用根據(jù)所述操作面上的位置而不同的校正值來校正所述指示位置。
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G06F 電數(shù)字數(shù)據(jù)處理
G06F3-00 用于將所要處理的數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)變成為計算機能夠處理的形式的輸入裝置；用于將數(shù)據(jù)從處理機傳送到輸出設備的輸出裝置，例如，接口裝置
G06F3-01 .用于用戶和計算機之間交互的輸入裝置或輸入和輸出組合裝置
G06F3-05 .在規(guī)定的時間間隔上，利用模擬量取樣的數(shù)字輸入
G06F3-06 .來自記錄載體的數(shù)字輸入，或者到記錄載體上去的數(shù)字輸出
G06F3-09 .到打字機上去的數(shù)字輸出
G06F3-12 .到打印裝置上去的數(shù)字輸出
