[發明專利]NOR和NAND閃存性能測評方法有效
| 申請號： | 201611230307.6 | 申請日： | 2016-12-28 |
| 公開（公告）號： | CN106683709B | 公開（公告）日： | 2019-08-09 |
| 發明（設計）人： | 朱怡安;李聯;任佩琪;徐帥;羅殊彥 | 申請（專利權）人： | 西北工業大學 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 西北工業大學專利中心 61204 | 代理人： | 王鮮凱 |
| 地址： | 710072 *** | 國省代碼： | 陜西;61 |
| 權利要求書： | 查看更多 | 說明書： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | nor nand 閃存 性能 測評 方法 | ||
【說明書】：
下載完整專利技術內容需要扣除積分，VIP會員可以免費下載。
該專利技術資料僅供研究查看技術是否侵權等信息，商用須獲得專利權人授權。該專利全部權利屬于西北工業大學，未經西北工業大學許可，擅自商用是侵權行為。如果您想購買此專利、獲得商業授權和技術合作，請聯系【客服】
本文鏈接：http://www.szxzyx.cn/pat/books/201611230307.6/2.html，轉載請聲明來源鉆瓜專利網。
- 上一篇：一種測試3DNAND字線電阻的方法
- 下一篇：一種三自由度運動平臺
