[發明專利]利用光學衰蕩信號測量液位的系統在審
| 申請號: | 201611228325.0 | 申請日: | 2016-12-27 |
| 公開(公告)號: | CN106610310A | 公開(公告)日: | 2017-05-03 |
| 發明(設計)人: | 陳韻 | 申請(專利權)人: | 天津市歐斯曼科技有限公司 |
| 主分類號: | G01F23/292 | 分類號: | G01F23/292 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 300000 天津市北辰區*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 利用 光學 信號 測量 系統 | ||
1.利用光學衰蕩信號測量液位的系統,其特征在于:包括高反射膜(1)、光學諧振腔(2)、耦合器(3)、脈沖光源(4)和光電探測器(5);高反射膜(1)固定在光學諧振腔(2)的左右兩個內表面,光學諧振腔(2)是一個頂部敞口的開放腔體;耦合器(3)單端輸出連接至光學諧振腔(2),脈沖光源(4)連接至耦合器(3);脈沖光源(4)發出的光經過耦合器(3)進入光學諧振腔(2),光學諧振腔(2)放置在容器底部,容器中液體會進入到光學諧振腔(2)中,光束經過第一個高反射膜入射到第二個高反射膜后再返回光纖,光學諧振腔(2)的反射光透過高反射膜(1)后一部分繼續在光學諧振腔(2)內振蕩,另外一部分返回到光纖中,經過耦合器(3)進入光電探測器(5)。
2.根據權利要求1所述的利用光學衰蕩信號測量液位的系統,其特征在于:所述的光學諧振腔(2)的腔長為20微米至800微米。
3.根據權利要求1所述的利用光學衰蕩信號測量液位的系統,其特征在于:所述的高反射膜(1)為介質膜或金屬膜。
4.根據權利要求1所述的利用光學衰蕩信號測量液位的系統,其特征在于:高反射膜(1)的反射率為99.9%以上。
5.根據權利要求1所述的利用光學衰蕩信號測量液位的系統,其特征在于:所述的光學諧振腔(2)為平行平面腔。
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