[發明專利]檢查設備和對集裝箱進行檢查的方法

有效

• 申請號: 201611221485.2
• 申請日: 2016-12-26
• 公開（公告）號: CN108240997B
• 公開（公告）日: 2020-09-04
• 發明（設計）人: 趙自然;顧建平;易茜;劉必成
• 申請（專利權）人: 同方威視技術股份有限公司
• 主分類號: G01N23/044
• 分類號: G01N23/044
• 代理公司: 中科專利商標代理有限責任公司 11021
• 代理人: 王波波

公開了一種檢查設備和對集裝箱進行檢查的方法。利用包括稀疏面陣探測器的掃描設備對被檢查集裝箱進行透射掃描，得到掃描數據。在深度方向的特定深度位置進行數字聚焦。濾除散焦的像素值，得到該特定深度位置處的切片圖像。判斷該切片圖像中是否包含危險品或者可疑物品。

技術領域

本公開涉及對輻射檢查技術，具體涉及一種檢查設備和對集裝箱進行檢查的方法。

背景技術

X射線透射技術常用于機場、海關等地的集裝箱貨物檢查。X射線透射技術利用直線探測器陣列來獲得集裝箱的二維透射圖像。例如X射線經準直形成扇形射線束，透過被檢物體被探測。在物體靜止時，探測器接收到的只是物體在射線層面上的一個一維投影。當物體沿垂直于射線面的方向運動時，物體各部分依次穿過射線束，探測器便以線掃描的方式得到了整個物體的一幅二維投影圖像。但上述檢查方式下，箱內物體縱深方向上的投影重疊在一起，丟失了深度信息。尤其對于爆炸物、危險品等輕原子序數材料，X射線透射后灰度衰減不夠明顯，嚴重影響此類物體形狀、位置等特征的辨認和識別。

目前獲取三維透視圖像的常用手段有CT層析成像和立體匹配技術等。CT層析成像技術復雜，成本昂貴，且成像時間長，因而限制了其在工業實時檢測中的應用。而較復雜物體在立體匹配過程中，灰度重建和邊界處理復雜，計算量也很大，難以實際應用。因而有必要研究其他技術來獲取集裝箱內物體的三維成像信息。

發明內容

考慮到現有技術中的一個或多個問題，提出了一種檢查諸如集裝箱之類的被檢查物體的檢查設備和檢查方法。

根據本公開的一個方面，提出了一種對集裝箱進行檢查的方法，包括步驟：利用包括稀疏面陣探測器的掃描設備對被檢查集裝箱進行透射掃描，得到掃描數據；在深度方向的特定深度位置進行數字聚焦；濾除散焦的像素值，得到該特定深度位置處的切片圖像；判斷該切片圖像中是否包含危險品或者可疑物品。

根據一些實施例，根據下式進行數字聚焦：

Δx＝(L-Z)/L·ΔD

其中L為射線源到探測器平面的水平距離，ΔD表示探測器單元相對于稀疏面陣探測器中心線的偏移量，Δx表示同一投影射線深度為Z的物體點的成像位置偏移量。

根據一些實施例，所述稀疏面陣探測器包括：第一組稀疏面陣探測單元，探測所述射線中第一能量范圍的那部分射線；第二組稀疏面陣探測單元，探測所述射線中第二能量范圍的那部分射線，其中第二能量范圍高于第一能量范圍。

根據一些實施例，所述稀疏面陣探測器的每個探測單元包括低能探測部分、濾波片和高能探測部分。

根據一些實施例，針對不同的深度位置分別進行數字聚焦并濾除散焦的像素值，得到各位置的切片圖像，以及通過動畫的方式連續播放這些切片圖像。

根據一些實施例，所述的方法包括步驟：通過輸入裝置連續調節深度位置；其中隨著調節步驟以動畫的方式播放不同深度值下的切片圖像。

根據一些實施例，所述的方法還包括步驟：基于稀疏面陣探測器中各個探測單元相對于中心線的偏移從探測的數據創建被檢查物體的二維透射圖像。

根據一些實施例，所述的方法包括步驟：結合所述二維透射圖像和切片圖像對應的深度值確定危險品或者可疑物品在集裝箱中的位置。

根據本公開的另一方面，提出了一種檢查設備包括：掃描設備，包括射線源和稀疏面陣探測器，對被檢查集裝箱進行透射掃描，得到掃描數據；數據處理設備，在深度方向的特定深度位置進行數字聚焦，濾除散焦的像素值，得到該特定深度位置處的切片圖像，并且判斷該切片圖像中是否包含危險品或者可疑物品。

根據一些實施例，所述稀疏面陣探測器包括：第一組稀疏面陣探測單元，探測所述射線中第一能量范圍的那部分射線；第二組稀疏面陣探測單元，探測所述射線中第二能量范圍的那部分射線，其中第二能量范圍高于第一能量范圍。