[發明專利]影像捕獲設備與其相位對焦的校正方法

有效

• 申請號: 201611217131.0
• 申請日: 2016-12-26
• 公開（公告）號: CN108243305B
• 公開（公告）日: 2020-12-15
• 發明（設計）人: 李運錦;曾家俊;張文彥
• 申請（專利權）人: 聚晶半導體股份有限公司
• 主分類號: H04N5/232
• 分類號: H04N5/232
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 馬雯雯;臧建明

1.一種相位對焦的校正方法，適用于具有一鏡頭的一影像捕獲設備，其特征在于，所述方法包括：

執行一對比對焦程序，而將所述鏡頭移動至多個鏡頭位置，并獲取多個對焦值的一統計分布與一最佳對焦位置；

依據所述對焦值的所述統計分布，判斷是否校正用于一相位對焦程序的一相位線性關系；

若判定校正用于所述相位對焦程序的所述相位線性關系，取得當所述鏡頭位于所述鏡頭位置中的一個時所檢測到的一第一相位差，并取得當所述鏡頭位于所述鏡頭位置的中的另一個時所檢測到的一第二相位差；

依據所述鏡頭位置中的一個與所述最佳對焦位置之間的第一鏡頭偏移量、對應所述鏡頭位置中的一個的所述第一相位差、所述鏡頭位置中的另一個與所述最佳對焦位置之間的第二鏡頭偏移量，以及對應所述鏡頭位置中的另一個的所述第二相位差，計算一第一修正斜率；以及

依據所述第一修正斜率修正多個鏡頭偏移量與多個相位差之間所述相位線性關系。

2.根據權利要求1所述的相位對焦的校正方法，其特征在于，在執行所述對比對焦程序的步驟之前，所述方法還包括：

依據所述相位線性關系執行所述相位對焦程序，以依據所述相位對焦程序將所述鏡頭移動至一暫時對焦位置，

其中執行所述對比對焦程序的步驟包括：

響應于所述鏡頭移動至所述暫時對焦位置，開始執行所述對比對焦程序，以獲取所述對焦值的所述統計分布與所述最佳對焦位置。

3.根據權利要求2所述的相位對焦的校正方法，其特征在于，所述鏡頭位置中的一個為基于所述對比對焦程序而獲取的所述最佳對焦位置，所述最佳對焦位置對應至所述對焦值中的最大值。

4.據權利要求1所述的相位對焦的校正方法，其特征在于，依據所述對焦值的所述統計分布，判斷是否校正用于所述相位對焦程序的所述相位線性關系的步驟包括：

取得所述統計分布的一統計特性，并判斷所述統計特性是否符合一預設條件；

若所述統計特性符合所述預設條件，決定校正用于所述相位對焦程序的所述相位線性關系；以及

若所述統計特性不符合所述預設條件，決定不校正用于所述相位對焦程序的所述相位線性關系。

5.根據權利要求4所述的相位對焦的校正方法，其特征在于，所述統計特性包括一統計變異量，所述預設條件包括是否大于一門檻值。

6.根據權利要求1所述的相位對焦的校正方法，其特征在于，依據所述第一修正斜率修正所述鏡頭偏移量與所述相位差之間所述相位線性關系的步驟包括：

獲取一參考基準斜率；

依據所述第一修正斜率與所述參考基準斜率的差值，調整所述參考基準斜率而獲取一第二修正斜率；以及

利用所述第二修斜率修正所述相位線性關系。

7.根據權利要求6所述的相位對焦的校正方法，其特征在于，所述參考基準斜率包括一工廠預設斜率，或不同時間點的多個歷史相位線性關系的多個歷史工作斜率的統計值。