[發明專利]機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理方法及系統有效
| 申請號： | 201611213494.7 | 申請日： | 2016-12-23 |
| 公開（公告）號： | CN107689247B | 公開（公告）日： | 2020-10-13 |
| 發明（設計）人： | 荊泉;劉春燕;陸思安 | 申請（專利權）人： | 北京國睿中數科技股份有限公司;中國電子科技集團公司第十四研究所 |
| 主分類號： | G11C29/56 | 分類號： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京清亦華知識產權代理事務所(普通合伙) 11201 | 代理人： | 張潤 |
| 地址： | 100085 北*** | 國省代碼： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 機臺 測試 掃描 路徑 保持 時間 違例 處理 方法 系統 | ||
1.一種機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理方法，其特征在于，包括以下步驟：
獲取發生保持時間違例的違例寄存器在當前掃描鏈中的位置；
根據所述違例寄存器在當前掃描鏈中的位置，向自動測試向量生成工具發送第一至第三控制指令；
所述自動測試向量生成工具根據所述第一控制指令對所述違例寄存器之前的寄存器的輸入和輸出進行控制，以及根據所述第二控制指令對所述違例寄存器之后的寄存器的輸入和輸出進行控制，以及根據所述第三控制指令對所述違例寄存器的輸入和輸出進行控制，具體包括：
控制所述違例寄存器之前的寄存器進行正常輸入，并忽略輸出；
控制違例寄存器之后的寄存器進行正常輸出，忽略輸入；
控制所述違例寄存器忽略輸入和輸出。
2.據權利要求1所述的機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理方法，其特征在于，
所述第一控制指令為：add_cell_constraints OX，OX表示忽略觀測值；
所述第二控制指令為：add_cell_constraints X，X表示寄存器的輸入為任意不需要關心的值；
所述第三控制指令為：add_cell_constraints XX，XX表示寄存器的輸入為任意不需要關心的值，并且忽略寄存器的輸出。
3.根據權利要求1所述的機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理方法，其特征在于，所述自動測試向量生成工具為TetraMax。
4.一種機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理系統，其特征在于，包括：
獲取模塊，所述獲取模塊用于獲取發生保持時間違例的違例寄存器在當前掃描鏈中的位置；
指令發送模塊，所述指令發送模塊與所述獲取模塊相連，用于根據所述違例寄存器在當前掃描鏈中的位置，向自動測試向量生成工具發送第一至第三控制指令；
所述自動測試向量生成工具，用于根據所述第一控制指令對所述違例寄存器之前的寄存器的輸入和輸出進行控制，以及根據所述第二控制指令對所述違例寄存器之后的寄存器的輸入和輸出進行控制，以及根據所述第三控制指令對所述違例寄存器的輸入和輸出進行控制，具體包括：
控制所述違例寄存器之前的寄存器進行正常輸入，并忽略輸出；
控制違例寄存器之后的寄存器進行正常輸出，忽略輸入；
控制所述違例寄存器忽略輸入和輸出。
5.根據權利要求4所述的機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理系統，其特征在于，
所述第一控制指令為：add_cell_constraints OX，OX表示忽略觀測值；
所述第二控制指令為：add_cell_constraints X，X表示寄存器的輸入為任意不需要關心的值；
所述第三控制指令為：add_cell_constraints XX，XX表示寄存器的輸入為任意不需要關心的值，并且忽略寄存器的輸出。
6.根據權利要求4所述的機臺測試中掃描路徑上的保持時間違例處理系統，其特征在于，所述自動測試向量生成工具為TetraMax。
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