[發明專利]蝸桿測距裝置

有效

• 申請號: 201611212296.9
• 申請日: 2016-12-25
• 公開（公告）號: CN106767472B
• 公開（公告）日: 2018-11-30
• 發明（設計）人: 王文革
• 申請（專利權）人: 重慶市永川區益銳機械有限責任公司
• 主分類號: G01B11/14
• 分類號: G01B11/14
• 代理公司: 重慶強大凱創專利代理事務所(普通合伙) 50217
• 代理人: 王照偉

本發明涉及一種蝸桿檢測裝置，具體涉及一種蝸桿測距裝置，包括基座、檢測機構、觀測板以及模擬公差構件，基座上開設有插孔，其中，檢測機構固定在基座上，檢測機構包括檢測座、檢測桿與激光頭，檢測桿的一端豎直方向上轉動連接在檢測塊上，檢測桿的另一端固定激光頭，檢測桿的靠近激光頭的一端的具有抬高針；觀測板固定在基座上；模擬公差構件包括基件、最大公差調節件與最小公差調節件，基件固定連接在基座上，最大公差調節件或最小公差調節件堆疊在基件上，最大公差調節件與最小公差調節件位于抬高針的下方。本發明的目的在于提供能簡化現有的檢測流程，提高檢測速度的蝸桿測距裝置。

技術領域

本發明涉及一種蝸桿檢測裝置，具體涉及一種蝸桿測距裝置。

背景技術

蝸桿在加工成型的過程中，需要檢測蝸桿上臺階間兩間隔面的距離，確保蝸桿加工精度。現有技術中如公告號CN204255238u一種快速檢測蝸桿長度工裝，包括平板，平板上設有底座，底座下表面開有連接槽，底座上表面開有豎直向下并與連接槽連通的用于插入待檢測蝸桿的檢測孔，底座上表面靠近檢測孔的位置設有對比塊，對比塊上表面開有豎直向下并貫穿整個對比塊的連接孔，對比塊高度與待檢測蝸桿兩間隔面間的長度一致，底座上表面靠近對比塊的位置還設有千分表。其檢測方法為將蝸桿插入檢測孔中，蝸桿的其中一個間隔面與檢測孔的上端面也就是平板上端面，然后使用千分表檢測蝸桿的另一個間隔面，再平移千分表檢測比較塊的上端面，通過千分表檢測的值的差值判斷，蝸桿的兩間隔面的距離，從而判斷蝸桿的加工精度。

現有技術存在的問題是：千分表在檢測的過程中需要水平移動，這可能會對檢測精度造成影響，其次檢測的過程涉及千分表的檢測的差值判斷，多出計算的環節會延長檢測時間，提高失誤率。

發明內容

本發明的目的在于提供能簡化現有的檢測流程，提高檢測速度的蝸桿測距裝置。

本發明提供基礎方案是：蝸桿測距裝置，包括基座、檢測機構、觀測板以及模擬公差構件，基座上開設有插孔，其中，檢測機構固定在基座上，檢測機構包括檢測座、檢測桿與激光頭，檢測桿的一端豎直方向上轉動連接在檢測座上，檢測桿的另一端固定所述激光頭，檢測桿的靠近激光頭的一端具有抬高針；觀測板固定在基座上；模擬公差構件包括基件、最大公差調節件與最小公差調節件，所述基件固定連接在基座上，所述最大公差調節件或最小公差調節件堆疊在基件上，所述最大公差調節件與最小公差調節件位于抬高針的下方。

基座為本方案中所有的構件提供一個水平的面，檢測機構的檢測座的高度接近于標準的蝸桿的兩端面的距離，檢測座能使檢測桿一端的高度接近蝸桿待檢測端面的高度，檢測桿能夠搭接在檢測蝸桿的端面與檢測座的端面，檢測桿的桿體傾斜的角度能夠反應二者的高低情況，抬高針的作用是為了使檢測桿激光頭所在的一端在搭接時比檢測桿的另一端高，這樣能保證無論是蝸桿一側較高還是檢測座一側較高，激光頭發出的激光不會被蝸桿遮擋，激光頭的效果就是利用激光直線傳播的特性將檢測桿反應的蝸桿與檢測座之間的傾斜度延長放大，觀測板的作用就是顯示延長后的激光，模擬公差構件的作用就是模擬蝸桿兩端面的高度，需要模擬最大公差值時，就在基件上放置最大公差調節件，同理模擬最小公差值就放置最小公差調節件，由于這里要求的精度較高，所以為了降低加工難度，設置了基件，只需精加工出最大公差調節件和最小公差調節件，檢測桿的抬高針放置在最大公差調節件上時，激光頭投射到觀測板的高度就是后續檢測時激光投射的最高點，抬高針放置在最小公差調節件上時原理相同，此時激光投射到觀測板上的點為后續檢測時激光投射的最低點。

使用方法：將檢測機構安裝到基座上，將模擬公差構件的基件固定在抬高針的下方，開啟激光頭后，先裝上最大公差調節件，將抬高針壓在最大公差調節件的上端面，記錄觀測板上的光點高度，然后裝上最小公差調節件，記錄觀測板上的光點高度。拆除模擬公差構件，將待檢測的蝸桿插入插孔中，將檢測桿抬高針的一端所在壓下，使抬高針的針頭抵住蝸桿待檢測的端面，檢測者記錄觀測板上的激光投射點，然后抬起檢測桿，旋轉蝸桿后放下檢測桿，記錄激光投射點。循環前述操作，最后根據檢測蝸桿時記錄的激光投射點是否在安裝模擬公差構件時激光投射點之間判斷蝸桿的合格率。