[發明專利]托盤IC檢測裝置

在審

• 申請號: 201611210089.X
• 申請日: 2016-12-24
• 公開（公告）號: CN106596589A
• 公開（公告）日: 2017-04-26
• 發明（設計）人: 寇昌
• 申請（專利權）人: 大連日佳電子有限公司
• 主分類號: G01N21/956
• 分類號: G01N21/956
• 代理公司: 大連智高專利事務所(特殊普通合伙)21235
• 代理人: 李猛

技術領域

本發明涉及一種新型托盤IC檢測裝置，尤其涉及一種基于視覺處理來檢測IC表面字符是否正確的裝置。

背景技術

根據產品(IC)測量要求，需要對其表面字符、方向極性、間距等進行檢查測量，屬于字符識別、尺寸測量類視覺檢查。傳統的尺寸測量主要依靠員工用卡尺等測量工具，且必須離線后單個測量，不僅測量精度易受人為因素影響，而且測量速度不高，影響工作效率；而字符的辨認則是由人眼逐個判斷，人為誤判就更不能保證了。由機器視覺構架的檢測系統，只要選擇合適的硬件，可以對產品進行高速尺寸測量及判定、字符識別、極性判定等檢查測量。

發明內容

針對現有技術存在的上述缺陷，本申請提供了一種托盤IC檢測裝置，本裝置節省了人力，保證了產品的質量。

為實現上述目的，本申請采用的技術方案是：托盤IC檢測裝置，具體包括：工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ、LED光源、IC放置托盤、工業計算機、圖像采集卡、光源控制器；所述工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ均與圖像采集卡連接，所述工業計算機分別與圖像采集卡、光源控制器相連，所述光源控制器還與LED光源相連；所述工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ、LED光源置于IC放置托盤上方。

進一步的，所述工業計算機上裝有嵌入式系統。

進一步的，所述工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ與IC放置托盤垂直設置。

進一步的，所述LED光源相對于IC放置托盤傾斜放置。

本發明由于采用以上技術方案，能夠取得如下的技術效果：

本申請采用高速圖像采集卡，該采集卡支持多路圖像采集，現采用3工業相機進行同時拍攝，然后進行圖片拼接處理，最終形成大面積高分辨率的圖片，經上位機PC處理后判定是否正常；

本裝置節省了人力，保證了產品的質量，進一步提高了檢測效率。

附圖說明

本發明共有附圖1幅：

圖1為托盤IC檢測裝置結構示意圖；

圖中序號說明：1、工業相機Ⅰ；2、工業相機Ⅱ；3、工業相機Ⅲ；4、LED光源；5、IC放置托盤；6、工業計算機；7、圖像采集卡；8、光源控制器。

具體實施方式

為了使本發明的目的、技術方案和優點更加清楚，下面結合附圖和具體實施例對本發明進行詳細描述。

實施例1

本實施例提供一種托盤IC檢測裝置，具體包括：工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ、LED光源、IC放置托盤、工業計算機、圖像采集卡、光源控制器；所述工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ均與圖像采集卡連接，所述工業計算機分別與圖像采集卡、光源控制器相連，所述光源控制器還與LED光源相連；所述工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ、LED光源置于IC放置托盤上方。

優選的，所述工業計算機上裝有嵌入式系統。

優選的，所述工業相機Ⅰ、工業相機Ⅱ、工業相機Ⅲ與IC放置托盤垂直設置，所述LED光源相對于IC放置托盤傾斜放置。

實施例2

本實施例提供一種基于實施例1的托盤IC檢測方法，具體為：采用預先經自學習產生的一系列標準圖像與采集的相應圖像處理之后，得到檢測的結果并判斷產品的好壞。其核心技術是3個工業相機采集的圖像進行無縫拼接，分為三個主要步驟：圖像預處理、圖像配準、圖像融合與邊界平滑。

圖像預處理是對圖像進行幾何畸變校正和噪聲點的抑制等，讓參考圖像和待拼接圖像不存在明顯的幾何畸變；在圖像質量不理想的情況下進行圖像拼接，如果不經過圖像預處理，很容易造成一些誤匹配。圖像預處理主要是為下一步圖像配準做準備，讓圖像質量能夠滿足圖像配準的要求。

圖像配準是對參考圖像和待拼接圖像中的匹配信息進行提取，在提取出的信息中尋找最佳的匹配，完成圖像間的對齊。圖像拼接的成功與否主要是圖像的配準。待拼接的圖像之間，可能存在平移、旋轉、縮放等多種變換或者大面積的同色區域等很難匹配的情況，圖像配準算法能夠在各種情況下準確找到圖像間的對應信息，將圖像對齊。

圖像融合是完成圖像匹配以后，對圖像進行縫合，并對縫合的邊界進行平滑處理，讓縫合自然過渡。由于任何兩幅相鄰圖像在采集條件上都不可能做到完全相同，因此，對于一些本應該相同的圖像特性，如圖像的光照特性等，在兩幅圖像中就不會表現的完全一樣。圖像拼接縫隙就是從一幅圖像的圖像區域過渡到另一幅圖像的圖像區域時，由于圖像中的某些相關特性發生了躍變而產的。圖像融合就是為了讓圖像間的拼接縫隙不明顯，拼接更自然。