[發明專利]前導零的檢測結構和方法

有效

• 申請號: 201611208564.X
• 申請日: 2016-12-23
• 公開（公告）號: CN108241483B
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發明（設計）人: 劉臻;楊梁
• 申請（專利權）人: 龍芯中科技術有限公司
• 主分類號: G06F7/57
• 分類號: G06F7/57
• 代理公司: 北京同立鈞成知識產權代理有限公司 11205
• 代理人: 楊貝貝;劉芳

1.一種前導零的檢測結構，其特征在于，包括：

擴展扇出單元、電流處理單元和修正低位數據單元；

所述電流處理單元連接在所述擴展扇出單元與所述修正低位數據單元之間；

所述擴展扇出單元，用于獲取二進制數據流，對所述二進制數據流進行擴展處理，并將擴展后的二進制數據流輸出給所述電流處理單元；

所述電流處理單元，用于根據擴展后的二進制數據流，生成與二進制數據流的各位對應的數據值，并將與二進制數據流的各位對應的數據值輸出給所述修正低位數據單元；其中，所述數據值表征二進制數據流的當前位以及當前位之前的各位上是否出現1；

所述修正低位數據單元，用于對與二進制數據流的各位對應的數據值進行修正，生成二進制數據流的首個1的位置信息。

2.根據權利要求1所述的結構，其特征在于，所述擴展扇出單元，包括：

N個反相器鏈，其中N的數值與二進制數據流的總位數相同，N為正整數；

各反相器鏈的級數相同；

每一個反相器鏈，用于獲取二進制數據流的一個位上的數據，并對當前位上的數據進行擴展處理，復制生成n個當前位的擴展后的數據，以構成擴展后的二進制數據流，其中，n為當前位的位數，n∈[1,N]，n為正整數。

3.根據權利要求2所述的結構，其特征在于，所述電流處理單元，包括：電流源網絡子單元、電流輸出子單元和電流比較子單元；

所述電流源網絡子單元、所述電流輸出單元子分別與所述電流比較子單元連接，所述電流比較子單元與所述修正低位數據單元連接；

所述電流源網絡子單元，用于將擴展后的二進制數據流轉換為電流和的值，并將電流和的值輸出給所述電流比較子單元；

所述電流輸出子單元，用于生成比較電流值，并將所述比較電流值輸出給所述電流比較子單元；

所述電流比較子單元，用于對所述電流和的值、所述比較電流值進行比較之后，生成與二進制數據流的各位對應的數據值。

4.根據權利要求3所述的結構，其特征在于，所述電流源網絡子單元，包括：

N個電流源模塊；

每一個電流源模塊與一個反相器鏈相對應，每一個電流源模塊中具有n個的電流源子模塊，每一個電流源模塊中各電流源子模塊并聯；

所述電流源子模塊包括串聯的第一電流源和開關；

每一個電流源模塊的各電流源子模塊的輸入端與各反相器鏈錯位連接，每一個電流源模塊的輸出端與電流比較子單元的第一輸入端連接；

每一個電流源模塊，用于確定與二進制數據流當前位n對應的電流和的值。

5.根據權利要求3所述的結構，其特征在于，所述電流輸出子單元，包括：

參考電流生成模塊和閾值電流生成模塊；

所述參考電流生成模塊的輸出端與所述閾值電流生成模塊的輸出端連接，所述閾值電流生成模塊與所述電流比較子單元的第二輸入端連接；

所述參考電流生成模塊，用于生成參考電流值，并將所述參考電流值輸出給所述閾值電流生成模塊；

所述閾值電流生成模塊，用于生成閾值電流值，并根據所述參考電流值和所述閾值電流值生成比較電流值，將所述比較電流值輸出給所述電流比較子單元。

6.根據權利要求5所述的結構，其特征在于，所述參考電流生成模塊，包括：

N個參考電流生成子模塊；每一個參考電流生成子模塊包括第二電流源和電阻；

所述第二電流源與所述電阻的一端連接，所述電阻的另一端與所述閾值電流生成模塊的輸出端連接；

所述第二電流源，用于在二進制數據流當前位n的數據為0時進行關閉以不產生電流，在二進制數據流當前位n的數據為1時進行閉合以產生電流。

7.根據權利要求5或6所述的結構，其特征在于，所述閾值電流生成模塊，包括：

N個閾值電流生成子模塊；閾值電流生成子模塊包括第三電流源和可調電阻；

所述第三電流源與所述可調電阻的一端連接，所述可調電阻的另一端與所述電流比較子單元連接。