[發(fā)明專(zhuān)利]雙模冗余的故障檢測(cè)裝置的故障檢測(cè)方法

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611207129.5
• 申請(qǐng)日: 2016-12-23
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN106777719A
• 公開(kāi)（公告）日: 2017-05-31
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 蔡金燕;孟亞峰;李丹陽(yáng);韓春輝;王濤;孟繁卿
• 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人: 中國(guó)人民解放軍陸軍工程大學(xué)
• 主分類(lèi)號(hào): G06F17/50
• 分類(lèi)號(hào): G06F17/50
• 代理公司: 石家莊國(guó)為知識(shí)產(chǎn)權(quán)事務(wù)所 13120
• 代理人: 陸林生

本發(fā)明涉及故障檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，提供了一種雙模冗余的故障檢測(cè)裝置的故障檢測(cè)方法。該故障檢測(cè)方法包括：根據(jù)待測(cè)電路生成待驗(yàn)證電路；對(duì)所述待驗(yàn)證電路中的所有節(jié)點(diǎn)依次進(jìn)行單固定型故障注入；將故障注入后的所述待驗(yàn)證電路與故障注入前的所述待驗(yàn)證電路進(jìn)行等價(jià)性驗(yàn)證，并記錄等價(jià)性驗(yàn)證結(jié)果；在所述待驗(yàn)證電路的所有節(jié)點(diǎn)均完成故障注入和等價(jià)驗(yàn)證后，根據(jù)所述等價(jià)驗(yàn)證結(jié)果得出所述待測(cè)電路的故障檢測(cè)率。該故障檢測(cè)方法能夠有效利用胚胎電子細(xì)胞陣列中的空閑細(xì)胞，可實(shí)時(shí)檢測(cè)故障，故障檢測(cè)率高。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及故障檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域，特別是涉及一種雙模冗余的故障檢測(cè)裝置的故障檢測(cè)方法。

背景技術(shù)

胚胎電子細(xì)胞陣列是一種新型的具有故障自檢測(cè)和自修復(fù)能力的高可靠性硬件。在環(huán)境惡劣，人工維修難以開(kāi)展以及對(duì)任務(wù)要求嚴(yán)苛，需要電子設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)可靠運(yùn)行的領(lǐng)域，如深海、深空、強(qiáng)輻射、金融等領(lǐng)域，具有廣闊的應(yīng)用前景。

自胚胎電子細(xì)胞陣列的概念提出以來(lái)，陣列內(nèi)故障的實(shí)時(shí)在線檢測(cè)問(wèn)題一直是一個(gè)亟待解決的關(guān)鍵性問(wèn)題。國(guó)內(nèi)外眾多學(xué)者針對(duì)這個(gè)問(wèn)題開(kāi)展了大量的研究，總結(jié)目前已有的故障檢測(cè)方法，主要的設(shè)計(jì)思路可分為四類(lèi)：第一類(lèi)設(shè)計(jì)思路是細(xì)胞內(nèi)或細(xì)胞間特定模塊的局部檢測(cè)；第二類(lèi)設(shè)計(jì)思路是采用外部檢測(cè)資源對(duì)電子細(xì)胞陣列的輸入輸出進(jìn)行實(shí)時(shí)檢測(cè)；第三類(lèi)設(shè)計(jì)思路是在陣列內(nèi)設(shè)計(jì)在線BIST(Built-in Self-Test，BIST)結(jié)構(gòu)；第四類(lèi)設(shè)計(jì)思路與以上三種方法有很大不同，它充分利用電子細(xì)胞陣列內(nèi)的空閑資源，在電路映射階段，自動(dòng)生成一種在線故障檢測(cè)結(jié)構(gòu)，實(shí)現(xiàn)陣列內(nèi)故障的實(shí)時(shí)在線檢測(cè)。

但是第四類(lèi)設(shè)計(jì)思路目前僅針對(duì)組合電路進(jìn)行了研究，沒(méi)有研究時(shí)序電路的情況，所采用的奇偶校驗(yàn)碼(Parity Code)與波格碼(Berger Code)，故障覆蓋率有待提高，而且邏輯綜合的過(guò)程并不能保證電路的全自檢(Totally Self-Checking，TSC)特性100％實(shí)現(xiàn)。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明要解決的技術(shù)問(wèn)題是針對(duì)上述現(xiàn)有技術(shù)的不足，提供一種故障檢測(cè)率高的雙模冗余的故障檢測(cè)的故障檢測(cè)方法。

本發(fā)明實(shí)施例提供一種雙模冗余的故障檢測(cè)裝置的故障檢測(cè)方法，所述雙模冗余的故障檢測(cè)裝置用于檢測(cè)胚胎電子細(xì)胞陣列的故障，包括信號(hào)輸入端、功能輸出端和檢測(cè)信號(hào)輸出端，還包括功能電路、雙模冗余電路和檢測(cè)器；所述功能電路、雙模冗余電路和檢測(cè)器均包括所述胚胎電子細(xì)胞陣列中的多個(gè)胚胎電子細(xì)胞；

所述功能電路的輸入端和所述雙模冗余電路的輸入端均與所述信號(hào)輸入端相連；所述功能電路的輸出端與所述功能輸出端相連；

所述雙模冗余電路的輸出端與所述檢測(cè)器的輸入端相連；

所述檢測(cè)器的輸入端還與所述功能電路的輸出端相連；所述檢測(cè)器的輸出端與所述檢測(cè)信號(hào)輸出端相連；

所述檢測(cè)器用于檢測(cè)所述功能電路的輸出信號(hào)和所述雙模冗余電路的輸出信號(hào)是否相同：若不同，則所述檢測(cè)器輸出故障信息；否則，所述檢測(cè)器輸出正常信息；所述故障檢測(cè)方法包括：

根據(jù)待測(cè)電路生成待驗(yàn)證電路；

對(duì)所述待驗(yàn)證電路中的所有節(jié)點(diǎn)依次進(jìn)行單固定型故障注入；

將故障注入后的所述待驗(yàn)證電路與故障注入前的所述待驗(yàn)證電路進(jìn)行等價(jià)性驗(yàn)證，并記錄等價(jià)性驗(yàn)證結(jié)果；

在所述待驗(yàn)證電路的所有節(jié)點(diǎn)均完成故障注入和等價(jià)驗(yàn)證后，根據(jù)所述等價(jià)驗(yàn)證結(jié)果得出所述待測(cè)電路的故障檢測(cè)率。

優(yōu)選的，所述待測(cè)電路包括第一功能電路和第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路，所述第一錯(cuò)誤檢測(cè)電路包括第一雙模冗余電路和第一檢測(cè)器；所述根據(jù)待測(cè)電路生成待驗(yàn)證電路具體為：