[發明專利]多層結構與其制造方法及對應其的接觸結構有效
| 申請號: | 201611205465.6 | 申請日: | 2016-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN108242386B | 公開(公告)日: | 2020-06-02 |
| 發明(設計)人: | 陳士弘 | 申請(專利權)人: | 旺宏電子股份有限公司 |
| 主分類號: | H01L21/02 | 分類號: | H01L21/02;H01L27/02 |
| 代理公司: | 中科專利商標代理有限責任公司 11021 | 代理人: | 任巖 |
| 地址: | 中國臺灣新竹*** | 國省代碼: | 臺灣;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 多層 結構 與其 制造 方法 對應 接觸 | ||
1.一種多層結構的制造方法,包括:
形成一疊層(110)于一基板(100)上,該疊層由交替的多個導電層(103、107、111、115、119、123)和多個絕緣層(101、105、109、113、117、121、125)所構成,其中該疊層包括一多層區(Am)及鄰接于該多層區的一接觸區(Ac);
形成多個第一開口(132)于該接觸區中;
形成一導電連接結構(142)于該疊層上及所述第一開口之中;以及
圖案化該疊層,其中在圖案化該疊層的過程中,該導電連接結構連續性延伸于該接觸區上及所述第一開口中,使所述導電層(103、107、111、115、119、123)維持電性連接。
2.如權利要求1所述的多層結構的制造方法,其中所述第一開口是借由一第一刻蝕工藝(130)所形成,具有不同的深度且垂直延伸至所述導電層上,以暴露多個著陸區(c1、c2、c3、c4、c5、c6)。
3.如權利要求2所述的多層結構的制造方法,其中圖案化該疊層還包括:
借由一第二刻蝕工藝(150)于該多層區形成多個第二開口(152);以及
借由一第三刻蝕工藝(160)于所述第二開口中形成多個第三開口(162),其中在該第二刻蝕工藝及該第三刻蝕工藝的期間,該導電連接結構電性連接于該接觸區中的所述導電層。
4.如權利要求1所述的多層結構的制造方法,還包括:
在圖案化該疊層之后,圖案化該接觸區中的該導電連接結構以形成多個接觸結構(172、174、176、178、180、182)。
5.如權利要求4所述的多層結構的制造方法,其中:
在圖案化該疊層之后,形成多個剩余的導電連接結構于該多層區上,所述剩余的導電連接結構與所述接觸結構具有相同的材料。
6.如權利要求1所述的多層結構的制造方法,其中該基板包括對應于該疊層的一疊層區(As)以及鄰接于該疊層區的一延伸區(Ae)。
7.如權利要求6所述的多層結構的制造方法,其中在圖案化該疊層的過程中,該導電連接結構連續性延伸于該接觸區上、所述第一開口中、該延伸區上及該基板中,以電性連接該些導電層及該基板。
8.一種多層結構,包括:
一基板(200);
一疊層(100),位于該基板上,該疊層由交替的多個導電層(103、107、113、115、119、123)和多個絕緣層(101、105、109、113、117、121、125)所構成,其中該基板包括對應于該疊層的一疊層區(As)以及鄰接于該疊層區的一延伸區(Ae),該疊層(100)位于該疊層區(As)內;以及
多個導電連接結構(242’),位于該延伸區中,其中所述導電連接結構是由該基板的一頂面(200a)垂直延伸于該基板中,且所述導電連接結構具有不同的深度。
9.如權利要求8所述的多層結構,其中位于該延伸區中的各該導電連接結構的深度是大于1000埃(Angstrom)。
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H01L21-00 專門適用于制造或處理半導體或固體器件或其部件的方法或設備
H01L21-02 .半導體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個器件所使用的除半導體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內或其上形成的多個固態組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造





