[發(fā)明專利]一種弧光檢測(cè)探頭有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611204698.4 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-23 |
| 公開(公告)號(hào): | CN106597237B | 公開(公告)日: | 2019-07-05 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 胡天邦 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 江蘇奧雷光電有限公司 |
| 主分類號(hào): | G01R31/12 | 分類號(hào): | G01R31/12 |
| 代理公司: | 蘇州廣正知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 32234 | 代理人: | 馬云玉 |
| 地址: | 212009 江蘇*** | 國省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 弧光 檢測(cè) 探頭 | ||
本發(fā)明弧光檢測(cè)探頭,包括底座、套設(shè)在所述底座外的透明外殼、纏繞在所述底座表面的熒光光纖、填充在所述底座和所述透明外殼之間的熒光膠粉,所述底座的表面設(shè)有多個(gè)用于固定熒光光纖的溝槽,所述底座的表面還設(shè)有光纖固定孔。本發(fā)明相較于目前的單點(diǎn)式和線式探頭,可探測(cè)180°或360°全角度范圍,遠(yuǎn)大于單點(diǎn)式探頭,探測(cè)精度和接收的光強(qiáng)度遠(yuǎn)大于線式探頭。并且在相同入射光下,探測(cè)范圍內(nèi)接收光的強(qiáng)度差異小。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及光探測(cè)領(lǐng)域,具體是一種弧光檢測(cè)探頭。
背景技術(shù)
電力系統(tǒng)由于各種的短路原因可引起弧光,為及時(shí)檢測(cè)到弧光并安全迅速地切斷電弧光,有些廠家推出了采用光纖傳輸信號(hào)的弧光探測(cè)系統(tǒng)。光纖傳輸信號(hào)不僅可以降低檢測(cè)系統(tǒng)的響應(yīng)時(shí)間,還可以避免電磁干擾,提升系統(tǒng)的可靠性。
目前光纖傳輸信號(hào)的弧光探測(cè)系統(tǒng)主要由探頭,傳輸光纖和光電模塊組成。其中探頭一般分為單點(diǎn)式和線式,普遍存在以下缺點(diǎn):?jiǎn)吸c(diǎn)式探頭只能捕獲它周圍相對(duì)較小區(qū)域的光,探測(cè)角度范圍小;線式傳感器通常是一個(gè)環(huán)形的光纖構(gòu)成,可采集光纖路徑上的較大區(qū)域的光,但探測(cè)精度和靈敏度較小。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明的目的是提供一種大角度,高靈敏度,高可靠性,低成本的弧光檢測(cè)探頭。
本發(fā)明通過如下技術(shù)方案實(shí)現(xiàn)上述目的:一種弧光檢測(cè)探頭,包括底座、套設(shè)在所述底座外的透明外殼、纏繞在所述底座表面的熒光光纖、填充在所述底座和所述透明外殼之間的熒光膠粉,所述底座的表面設(shè)有多個(gè)用于固定熒光光纖的溝槽,所述底座的表面還設(shè)有光纖固定孔。
進(jìn)一步的,所述底座包括底板、位于所述底板上的凸臺(tái)、位于所述凸臺(tái)上的纏繞臺(tái)。
進(jìn)一步的,所述底板、所述凸臺(tái)、所述纏繞臺(tái)的外輪廓均為圓形,所述底板、凸臺(tái)、纏繞臺(tái)的外輪廓直徑依次減小。
進(jìn)一步的,所述底座和透明外殼通過螺絲或卡槽方式連接。
進(jìn)一步的,所述底座的外表面與所述透明外殼的內(nèi)表面之間留有間隙,所述凸臺(tái)的頂面、所述纏繞臺(tái)的外表面和所述透明外殼的內(nèi)表面之間形成封閉的空腔,所述熒光膠粉填充在所述空腔內(nèi)。
一種弧光檢測(cè)探頭的制造方法,包括以下步驟:
(1)、選擇合適的透明外殼;
(2)、根據(jù)透明外殼尺寸設(shè)計(jì)合適的底座,底座外表面與透鏡內(nèi)表面留有一定間距;
(3)、選擇合適長度的熒光光纖,一端穿過并固定在底座的光纖固定孔,再將其沿底座表面的溝槽緊密纏繞并固定在底座上,光纖另一出光端穿過底座出光孔并預(yù)留一定長度用于與傳輸光纖耦合;
(4)、將底座與透明外殼緊密固定好;
(5)、按一定膠粉比例調(diào)配熒光粉膠,通過底座上的注膠孔注入到底座與透明外殼之間;放入烤箱中烘烤一段時(shí)間,得到弧光檢測(cè)探頭。
與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明弧光檢測(cè)探頭的有益效果是:相較于目前的單點(diǎn)式和線式探頭,可探測(cè)180°或360°全角度范圍,遠(yuǎn)大于單點(diǎn)式探頭,探測(cè)精度和接收的光強(qiáng)度遠(yuǎn)大于線式探頭。并且在相同入射光下,探測(cè)范圍內(nèi)接收光的強(qiáng)度差異小。
附圖說明
圖1是180°弧光檢測(cè)探頭的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖2是180°弧光檢測(cè)探頭的熒光光纖纏繞示意圖。
圖3是180°弧光檢測(cè)探頭的底座示意圖。
圖4是360°弧光檢測(cè)探頭的底座示意圖。
具體實(shí)施方式
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過端—不過端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 檢測(cè)裝置、檢測(cè)方法和檢測(cè)組件
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