[發明專利]一種多譜段探測器組件調試裝置在審
| 申請號: | 201611203393.1 | 申請日: | 2016-12-23 |
| 公開(公告)號: | CN108240966A | 公開(公告)日: | 2018-07-03 |
| 發明(設計)人: | 沈玉秀;孫凱;李紅沛;王豐年 | 申請(專利權)人: | 天津津航技術物理研究所 |
| 主分類號: | G01N21/01 | 分類號: | G01N21/01;G02B26/10 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 300308*** | 國省代碼: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 探測器組件 調試裝置 多譜段 探測器技術領域 長波 焦距調整機構 成像聚焦 光斑移動 清晰成像 短波 匹配 電路 掃描 | ||
本發明屬于探測器技術領域,具體涉及一種多譜段探測器組件調試裝置。與現有技術相比較,本發明具備如下有益效果:(1)滿足對五種探測器組件的安裝:適應短波、中波、長波探測器組件、電路的固定安裝;(2)具備擺掃的機構,能夠通過控制實現掃描速度與光斑移動速度的匹配;(3)具備成像聚焦功能且具備焦距調整機構:滿足清晰成像的要求。
技術領域
本發明屬于探測器技術領域,具體涉及一種多譜段探測器組件調試裝置。
背景技術
某紅外成像系統核心器件采用了多譜段TDI紅外探測器組件,覆蓋短波到超長波共計五個探測器、九個譜段,涉及的探測器種類多、譜段廣。根據TDI紅外探測器的工作原理,需要掃描方可清晰成像,一般成像調試是在系統級完成,由于該系統較為復雜,探測器組件種類多,裝調體積緊湊,若在系統級出現問題,解決較為繁瑣,影響產品的進度。
因此,迫切需要研制一款適合多譜段探測器組件的調試裝置,在室內即可完成多個探測器組件的成像調試,有利于盡早發現多譜段探測器組件及其電路等使用問題。
發明內容
(一)要解決的技術問題
本發明要解決的技術問題是:如何提供一種多譜段探測器組件的調試裝置,解決早期多個譜段TDI紅外探測器組件調試的問題,可完成室內成像調試,同時該裝置也可適用于多種面陣紅外探測器的成像調試。
(二)技術方案
為解決上述技術問題,本發明提供一種多譜段探測器組件調試裝置,其包括:基座1、固定支架2、支撐支架3、多譜段TDI紅外探測器組件4、鏡頭5、擺鏡機構6、光學腔體7、電路8;
其中,所述擺鏡機構6適用于短波到超長波譜段探測器組件;所述鏡頭5采用換裝方式覆蓋短波、中波、長波、超長波;所述電路8用于完成對各譜段探測器組件的信號調理;所述固定支架2、支撐支架3和基座1用于滿足多譜段探測器組件的安裝;
目標通過光學腔體7,經由擺鏡機構6折轉,并經鏡頭5匯聚到多譜段TDI紅外探測器組件4像面上,通過電路8控制擺鏡的掃描速度,與多譜段TDI紅外探測器組件4的光斑速度匹配實現清晰成像;
所述基座1、固定支架2、支撐支架3用于對多譜段TDI紅外探測器組件4的固定,同時具備對多譜段TDI紅外探測器組件4位置的調整、電路8的安裝以及具備與鏡頭5、光學腔體7的接口;由于多譜段TDI紅外探測器組件4譜段覆蓋短波、中波、長波、到超長波,且在實驗室成像調試的精度要求不高,擺鏡機構6中的擺鏡采用簡易鋁塊拋光加工而成,其擺鏡口徑設計尺寸按照滿足覆蓋一定中心區域來成像,可滿足各譜段探測器組件成像的要求,擺鏡機構6中的電機用于實現擺鏡的驅動,按照既定的速度帶動擺鏡掃描;
其中,鏡頭5選用標準的短波鏡頭、中波鏡頭、長波鏡頭,設置為能夠覆蓋探測器組件的工作譜段,像面、焦距、后截距、傳函指標滿足室內成像的要求;光學腔體7將鏡頭5和擺鏡機構6裝于其內部,以實現目標光路。
(三)有益效果
與現有技術相比較,本發明具備如下有益效果:
(1)滿足對五種探測器組件的安裝:適應短波、中波、長波探測器組件、電路的固定安裝;
(2)具備擺掃的機構,能夠通過控制實現掃描速度與光斑移動速度的匹配;
(3)具備成像聚焦功能且具備焦距調整機構:滿足清晰成像的要求。
附圖說明
圖1為多譜段探測器組件調試裝置組成框圖;
圖2為多譜段探測器組件調試裝置圖。
具體實施方式
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