[發明專利]一種用于確定小區中的低質量區域的方法與裝置有效
| 申請號： | 201611200920.3 | 申請日： | 2016-12-22 |
| 公開（公告）號： | CN108235345B | 公開（公告）日： | 2021-06-08 |
| 發明（設計）人： | 陳向鍵;蓋永明;周聿飛 | 申請（專利權）人： | 上海諾基亞貝爾股份有限公司 |
| 主分類號： | H04W24/02 | 分類號： | H04W24/02;H04W24/08 |
| 代理公司： | 北京啟坤知識產權代理有限公司 11655 | 代理人： | 趙晶 |
| 地址： | 201206 上海*** | 國省代碼： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 用于 確定 小區 中的 質量 區域 方法 裝置 | ||
1.一種用于確定小區中低質量區域的方法，其中，該方法包括以下步驟：
a確定低質量小區；
b確定所述低質量小區中的低質量移動終端；
c如果落入所述低質量小區的一區域內的所述低質量移動終端的數量超過閾值，則確定所述區域為所述低質量小區中的低質量區域；
其中，當所述低質量移動終端的數量超過所述閾值時，將其中至少達到所述閾值的數量的低質量移動終端所構成的角度范圍作為所述區域。
2.根據權利要求1所述的方法，其中，所述步驟a中根據對小區的KPI分析來確定所述低質量小區。
3.根據權利要求1所述的方法，其中，所述步驟b中根據對所述低質量小區中各移動終端的KPI分析來確定所述低質量移動終端。
4.根據權利要求1至3中任一項所述的方法，其中，該方法還包括以下步驟：
-根據所述低質量移動終端的天線到達角度，確定所述低質量移動終端所屬的角度范圍。
5.一種用于確定小區中低質量區域的裝置，其中，該裝置包括：
小區確定裝置，用于確定低質量小區；
終端確定裝置，用于確定所述低質量小區中的低質量移動終端；
區域確定裝置，用于如果落入所述低質量小區的一區域內的所述低質量移動終端的數量超過閾值，則確定所述區域為所述低質量小區中的低質量區域；
其中，當所述低質量移動終端的數量超過所述閾值時，將其中至少達到所述閾值的數量的低質量移動終端所構成的角度范圍作為所述區域。
6.根據權利要求5所述的裝置，其中，根據對小區的KPI分析來確定所述低質量小區。
7.根據權利要求5所述的裝置，其中，根據對所述低質量小區中各移動終端的KPI分析來確定所述低質量移動終端。
8.根據權利要求5至7中任一項所述的裝置，其中，該裝置還包括：
角度確定裝置，用于根據所述低質量移動終端的天線到達角度，確定所述低質量移動終端所屬的角度范圍。
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