[發明專利]SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法及檢測裝置

有效

• 申請號: 201611199482.3
• 申請日: 2016-12-22
• 公開（公告）號: CN106776095B
• 公開（公告）日: 2020-01-03
• 發明（設計）人: 陳湖廣;楊萬云;周士兵;彭鵬;馬翼;田達海
• 申請（專利權）人: 湖南國科微電子股份有限公司
• 主分類號: G06F11/07
• 分類號: G06F11/07;G06F11/26
• 代理公司: 43113 長沙正奇專利事務所有限責任公司
• 代理人: 盧宏

1.一種SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法，SSD固態硬盤(4)中包括SSD固態硬盤主控制器(1)、閃存(2)；所述閃存(2)包括閃存塊，所述閃存塊包括多個頁面，其特征在于：所述SSD固態硬盤主控制器包括閃存塊狀態管理模塊(11)、糾錯模塊(13)，所述閃存塊狀態管理模塊(11)中設置有定時器模塊(12)；所述SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法包括如下步驟：

(1)在中央處理器(14)設置各個閃存塊的標號，并對閃存塊是否有效、閃存塊中編程完成的時間、閃存塊的讀取次數進行初始化，并初始化第一閾值Y₁、第二閾值Y₂；

(2)在定時器模塊(12)的每一個定時器周期完成時，計算各個有效的閃存塊的t₁、t₂及第一概率值M其中，t₁為閃存塊編程完成后到當前時刻經歷的時間，t₂為閃存塊編程完成之后，閃存(2)中數據的理論保持時間；

(3)中央處理器(14)對有效的閃存塊的讀取完成后，讀取糾錯模塊(13)記錄的該閃存塊的實際數據錯誤率R，并計算該閃存塊的k₁、k₂、第二概率值N，其中k₁為當前的實際數據讀取次數，k₂為數據未發生錯誤的閃存塊的理論最大數據讀取次數；

(4)根據步驟(3)中計算得到的N值、步驟(2)中計算得到的M值計算經驗數據錯誤率P＝M+N；

(5)對于各個閃存塊，若P≥Y₁或R≥Y₁中至少有一項成立，則設置該閃存塊為待檢測閃存塊，并跳轉到步驟(6)，否則，跳轉到步驟(2)；

(6)中央處理器(14)對待檢測閃存塊進行讀取，并計算該閃存塊的檢測錯誤率Q；

(7)判斷Q≥Y₂是否成立；若上式成立，則中央處理器(14)對該閃存塊進行回收處理，且閃存塊狀態管理模塊(11)將該閃存塊的狀態設置為無效。

2.根據權利要求1所述的SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法，其特征在于：還包括如下步驟：

(8)若Q≥Y₂不成立，則增大閾值Y₁。

3.根據權利要求1或2所述的SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法，其特征在于：所述步驟(1)中，Y₂的初始值由閃存(2)的出廠數據或數據手冊獲得或由試驗得到。

4.根據權利要求1或2所述的SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法，其特征在于：所述步驟(2)中，t₂由閃存(2)的出廠數據或數據手冊獲得，或由讀寫/擦除次數與閃存中數據的理論保持時間的對應關系得到，其中讀寫/擦除次數表示閃存塊的編程和擦除的總次數。

5.根據權利要求1或2所述的SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法，其特征在于：所述步驟(3)中，k₂由閃存(2)的出廠數據或數據手冊獲得或由試驗得到。

6.根據權利要求1或2所述的SSD固態硬盤數據可靠性智能檢測方法，其特征在于：所述步驟(6)中，中央處理器(14)選取待檢測閃存塊中的多個頁面進行讀取，該閃存塊的檢測錯誤率Q為待檢測閃存塊中所選取的的多個頁面的總錯誤率。