[發明專利]分光計模塊

有效

• 申請號: 201611198269.0
• 申請日: 2016-12-22
• 公開（公告）號: CN106908146B
• 公開（公告）日: 2021-06-29
• 發明（設計）人: J·巴隆;J·博瑞曼斯;A·蘭布雷切茨
• 申請（專利權）人: 光譜公司
• 主分類號: G01J3/02
• 分類號: G01J3/02
• 代理公司: 北京市金杜律師事務所 11256
• 代理人: 王茂華

本發明涉及分光計模塊(10)，包括：多個分開的電子電路模塊(20)，每一電子電路模塊包括集成傳感器電路，所述集成傳感器電路包含占據所述集成傳感器電路的區域的一部分的光敏區(22)，所述集成傳感器電路被布置成檢測入射光，其中所述多個分開的電子電路模塊(20)包括一群毗鄰電子電路模塊(20)，并且所述電子電路模塊(20)的光敏區(22)被布置在相應集成傳感器電路上以使得該群被裝載，從而其光敏區(22)被彼此相鄰地布置；以及光學模塊(10)，它對于所述多個分開的電子電路模塊(20)而言是公共的并且被布置成將入射光定向到所述電子電路模塊(20)中的每一者的光敏區(22)。

技術領域

本發明涉及光譜信息的記錄。

背景技術

在光譜感測中，需要獲取物體的光譜信息。光譜感測應當被理解為獲取光譜信息，其中來自物體的光被捕獲并且光譜信息被提取。光譜感測可捕捉來自物體的光譜信息，諸如來自單個點或來自物體的一區域。光譜信息可任選地還可被獲取，使得光譜信息也可在空間上被解析。在光譜感測中，檢測與多個波長范圍相關的入射光。光譜感測可例如被用在物體分析中，諸如用于確定具有特定光譜輪廓的物質是否存在于該物體中。

術語多光譜感測和超光譜感測經常被使用。這些術語不具有所確立的定義，而是通常多光譜感測指使用多個分立波長帶的光譜感測，而超光譜感測指的是感測在連貫光譜范圍上的窄光譜波長帶。超光譜感測還可通常使用比多光譜感測中使用的更大數目的光譜帶。

光譜感測可由分光計執行，這是用于獲取物體的光譜內容的專用設備。分光計可具有許多不同變型，取決于分光計要用于什么應用。

發明內容

本發明的目標是提供對光譜感測的改進。本發明的一個目標可以是允許使用相對不貴的設備獲取光譜信息。本發明的一個目標可以是允許使用相對小的設備獲取光譜信息。本發明的一個目標可以是允許獲取光譜信息，其中用于獲取光譜信息的設備是易于使用的。

本發明的這些和其他目標由在獨立權利要求中定義的發明來至少部分地滿足。優選實施例在從屬權利要求中闡明。

根據本發明的第一方面，提供了一種分光計模塊，包括：多個分開的電子電路模塊，所述電子電路模塊中的每一者包括集成傳感器電路，所述集成傳感器電路包含占據所述集成傳感器電路的區域的一部分的光敏區，所述集成傳感器電路被布置成檢測所設置的波長區間內的入射光，其中所述多個分開的電子電路模塊包括一群毗鄰電子電路模塊，并且該群中的電子電路模塊的光敏區被布置在相應集成傳感器電路上以使得該群毗鄰電子電路模塊被裝載成使得其光敏區被彼此相鄰地布置；以及光學模塊，它對于所述多個分開的電子電路模塊而言是公共的并且被布置成將入射光定向到所述電子電路模塊中的每一者的光敏區。

通過將光敏區布置在集成傳感器電路的特定區域中，按以下關系裝載毗鄰電子電路模塊是可能的：光敏區變得緊密地布置在分光計模塊中。這一布置進一步促進具有對多個分開的電子電路模塊而言公共的光學模塊。

形成根據第一方面的分光計模塊使得能夠使用非常小的分光計模塊，它可被布置成感測具有大為不同的波長的光。

多個分開的電子電路模塊中的每一者可被布置在分開的管芯上。

通過使分開的電子電路模塊在分開的管芯上形成，每一電子電路模塊的制造可適配與要由每一相應電子電路模塊檢測的光的波長相關聯的具體要求。

所述多個分開的電子模塊的光敏區可一起限定分光計模塊的傳感器平面。

光敏區可沿電子電路模塊的一側來布置。

光敏區可被布置在電子電路模塊的角上。

每一電子電路模塊的光敏區可包括多個像素，每一像素被布置成檢測所選波長的入射光，其中該多個像素包括對相同的所選波長敏感的像素集，并且其中該像素集分布在光敏區上。