[發(fā)明專利]一種坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)試探針的組裝方法及其組裝治具

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 201611196229.2
• 申請(qǐng)日: 2016-12-22
• 公開（公告）號(hào): CN106813641B
• 公開（公告）日: 2019-05-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉海倫;李增光;羅成
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 廣東長(zhǎng)盈精密技術(shù)有限公司
• 主分類號(hào): G01B21/04
• 分類號(hào): G01B21/04
• 代理公司: 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280
• 代理人: 李慶波

1.一種坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的測(cè)試探針的組裝方法，其特征在于，所述方法包括：

提供一測(cè)試探針組件，所述測(cè)試探針組件包括固定盤、安裝于所述固定盤的側(cè)壁上且沿所述固定盤的徑向延伸的至少一根側(cè)向探針、安裝于所述固定盤底部且沿所述固定盤的軸向延伸的轉(zhuǎn)接件以及底部探針；

將所述底部探針預(yù)先安裝于所述轉(zhuǎn)接件上；

提供一組裝治具，其中所述組裝治具包括承臺(tái)，所述承臺(tái)上設(shè)置有容置孔以及與所述容置孔連接的至少一容置槽；

將所述固定盤和所述轉(zhuǎn)接件放置并定位于所述容置孔內(nèi)，并將所述側(cè)向探針放置并定位于所述容置槽內(nèi)；具體為，從所述承臺(tái)的一側(cè)將所述固定盤、所述轉(zhuǎn)接件以及所述底部探針放置并定位于所述容置孔內(nèi)，并使得所述底部探針從所述承臺(tái)的另一側(cè)至少部分外露；

將所述底部探針緊固于定位后的所述轉(zhuǎn)接件上。

2.根據(jù)權(quán)利要求1中的組裝方法，其特征在于，所述側(cè)向探針的數(shù)量為四個(gè)，所述四個(gè)側(cè)向探針以所述固定盤為中心兩兩相對(duì)設(shè)置且相鄰設(shè)置的所述側(cè)向探針相互垂直，所述容置槽的數(shù)量為四個(gè)，所述四個(gè)容置槽以所述容置孔為中心兩兩相對(duì)設(shè)置且相鄰設(shè)置的所述容置槽相互垂直。

3.根據(jù)權(quán)利要求1中的組裝方法，其特征在于，所述提供一組裝治具的步驟包括：

對(duì)所述組裝治具進(jìn)行位置調(diào)整，以使得所述容置槽沿預(yù)設(shè)的參考方向設(shè)置；

所述將所述固定盤和所述轉(zhuǎn)接件放置并定位于所述容置孔內(nèi)，并將所述側(cè)向探針放置并定位于所述容置槽內(nèi)的步驟之后進(jìn)一步包括：

將定位的所述轉(zhuǎn)接件或所述固定盤與所述坐標(biāo)測(cè)量機(jī)的檢測(cè)設(shè)備進(jìn)行連接。

4.根據(jù)權(quán)利要求3中的組裝方法，其特征在于，所述對(duì)所述組裝治具進(jìn)行位置調(diào)整的步驟包括：

對(duì)沿所述容置槽的延伸方向間隔設(shè)置的兩個(gè)參考點(diǎn)進(jìn)行坐標(biāo)檢測(cè)；

根據(jù)檢測(cè)后的坐標(biāo)判斷所述容置槽的延伸方向與所述參考方向是否在誤差容許范圍內(nèi)。

5.根據(jù)權(quán)利要求4中的組裝方法，其特征在于，在所述將所述底部探針緊固于定位后的所述轉(zhuǎn)接件上的步驟之后，進(jìn)一步包括：

利用所述側(cè)向探針對(duì)所述兩個(gè)參考點(diǎn)進(jìn)行坐標(biāo)檢測(cè)；

根據(jù)檢測(cè)后的坐標(biāo)判斷所述側(cè)向探針的延伸方向與所述參考方向是否在所述誤差容許范圍內(nèi)。

6.根據(jù)權(quán)利要求3中的組裝方法，其特征在于，所述組裝治具進(jìn)一步包括鎖止件；

所述將所述底部探針緊固于定位后的所述轉(zhuǎn)接件上的步驟之前，進(jìn)一步包括：利用所述鎖止件將所述固定盤固定于所述容置孔內(nèi)。