[發(fā)明專利]用于處理驅(qū)動器的錯誤的方法和設(shè)備

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 201611194046.7
• 申請日: 2016-12-21
• 公開（公告）號: CN108228396B
• 公開（公告）日: 2021-03-23
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 高宏坡;康劍斌;高健;孫蕾;龔紹欽
• 申請（專利權(quán)）人: 伊姆西IP控股有限責(zé)任公司
• 主分類號: G06F11/20
• 分類號: G06F11/20
• 代理公司: 北京市金杜律師事務(wù)所 11256
• 代理人: 王茂華

本公開的實(shí)施例涉及用于處理驅(qū)動器的錯誤的方法和設(shè)備。驅(qū)動器的邏輯空間被劃分為多個部分。該方法包括響應(yīng)于在針對驅(qū)動器的I/O操作中檢測到的錯誤，確定錯誤的類型。該方法還包括響應(yīng)于確定錯誤的類型是軟介質(zhì)錯誤或數(shù)據(jù)錯誤，確定驅(qū)動器的多個部分中造成錯誤的驅(qū)動器部分。軟介質(zhì)錯誤是能夠通過故障部分的重映射來修復(fù)的錯誤，并且數(shù)據(jù)錯誤是由于驅(qū)動器上的數(shù)據(jù)被毀壞而引起的錯誤。此外，還可以僅針對發(fā)生錯誤的驅(qū)動器部分來處理錯誤。

技術(shù)領(lǐng)域

本公開的實(shí)施例總體涉及驅(qū)動器錯誤的處理，具體涉及用于基于驅(qū)動器的部分對驅(qū)動器錯誤進(jìn)行處理的方法和設(shè)備。

背景技術(shù)

在針對驅(qū)動器的I/O操作中檢測到錯誤時，通常會針對整個驅(qū)動器來處理錯誤。例如，在檢測到驅(qū)動器錯誤的情況下，整個驅(qū)動器可能被標(biāo)記為壽命結(jié)束(End of Life，簡稱為EOL)或者被標(biāo)記為不可用。在這種情況下，上層邏輯單元需要重構(gòu)存儲在整個故障驅(qū)動器上的所有數(shù)據(jù)。因此，針對整個驅(qū)動器的錯誤處理是耗時的，并且會大大降低驅(qū)動器的壽命和系統(tǒng)穩(wěn)定性。

發(fā)明內(nèi)容

為了至少部分地解決上述以及其他潛在的問題，本公開的實(shí)施例提供了用于處理驅(qū)動器的錯誤的方法和設(shè)備。

在本公開的第一方面，提供了一種用于處理驅(qū)動器的錯誤的方法。驅(qū)動器的邏輯空間被劃分為多個部分。該方法包括響應(yīng)于在針對驅(qū)動器的I/O操作中檢測到的錯誤，確定錯誤的類型。該方法還包括響應(yīng)于確定錯誤的類型是軟介質(zhì)錯誤或數(shù)據(jù)錯誤，確定驅(qū)動器的多個部分中造成錯誤的驅(qū)動器部分。軟介質(zhì)錯誤是能夠通過故障部分的重映射來修復(fù)的錯誤，并且數(shù)據(jù)錯誤是由于驅(qū)動器上的數(shù)據(jù)被毀壞而引起的錯誤。此外，該方法還包括僅針對發(fā)生錯誤的驅(qū)動器部分來處理錯誤。

在本公開的第二方面，提供了一種電子設(shè)備。該電子設(shè)備包括至少一個處理單元和至少一個存儲器。至少一個存儲器被耦合到至少一個處理單元并且存儲由至少一個處理單元執(zhí)行的指令。該指令當(dāng)由至少一個處理單元執(zhí)行時，使得電子設(shè)備：響應(yīng)于在針對驅(qū)動器的I/O操作中檢測到的錯誤，確定錯誤的類型，其中驅(qū)動器的邏輯空間被劃分為多個部分；響應(yīng)于確定錯誤的類型是軟介質(zhì)錯誤或數(shù)據(jù)錯誤，確定驅(qū)動器的多個部分中造成錯誤的驅(qū)動器部分，軟介質(zhì)錯誤是能夠通過故障部分的重映射來修復(fù)的錯誤，數(shù)據(jù)錯誤是由于驅(qū)動器上的數(shù)據(jù)被毀壞而引起的錯誤；以及僅針對發(fā)生錯誤的驅(qū)動器部分來處理錯誤。

在本公開的第三方面，提供了計算機(jī)程序產(chǎn)品。該計算機(jī)程序產(chǎn)品被有形地存儲在非瞬態(tài)計算機(jī)可讀介質(zhì)上并且包括機(jī)器可執(zhí)行指令。機(jī)器可執(zhí)行指令在被執(zhí)行時使得機(jī)器執(zhí)行根據(jù)本公開的第一方面所描述的方法的任意步驟。

通過下文描述將會理解，本公開的實(shí)施例的優(yōu)勢在于，通過僅針對發(fā)生錯誤的驅(qū)動器部分來處理錯誤，可以減少需要復(fù)制或重構(gòu)的數(shù)據(jù)量，從而減少處理錯誤所需的資源和時間。通過首先將發(fā)生錯誤的驅(qū)動器部分標(biāo)記為不可用，可以避免由該故障驅(qū)動器部分暴露的更多錯誤，從而消耗較少的驅(qū)動器上的備用區(qū)。這樣，可以延長驅(qū)動器壽命。此外，本公開的實(shí)施例可以實(shí)現(xiàn)按部分地來處理驅(qū)動器的錯誤，這可以減低系統(tǒng)負(fù)荷的密集性，避免整個驅(qū)動器的頻繁換出，因此可以提高系統(tǒng)穩(wěn)定性。

提供發(fā)明內(nèi)容部分是為了以簡化的形式來介紹對概念的選擇，它們在下文的具體實(shí)施方式中將被進(jìn)一步描述。發(fā)明內(nèi)容部分無意標(biāo)識本公開的關(guān)鍵特征或主要特征，也無意限制本公開的范圍。

附圖說明

通過結(jié)合附圖對本公開示例性實(shí)施例進(jìn)行更詳細(xì)的描述，本公開的上述以及其它目的、特征和優(yōu)勢將變得更加明顯，其中在本公開示例性實(shí)施例中，相同的參考標(biāo)號通常代表相同部件。

圖1示出了驅(qū)動器上的故障部分的LBA(邏輯區(qū)塊尋址)的分布；

圖2示出了本公開的實(shí)施例可實(shí)現(xiàn)于其中的用于處理驅(qū)動器的錯誤的映射的獨(dú)立磁盤冗余陣列(RAID)架構(gòu)的框圖；

圖3示出了根據(jù)本公開的實(shí)施例的用于處理驅(qū)動器的錯誤的方法的流程圖；