[發明專利]一種自動進樣器及其取樣方法

有效

• 申請號: 201611192477.X
• 申請日: 2016-12-21
• 公開（公告）號: CN106645523B
• 公開（公告）日: 2018-08-28
• 發明（設計）人: 周小靖;江仁謙;徐力
• 申請（專利權）人: 浙江福立分析儀器股份有限公司
• 主分類號: G01N30/24
• 分類號: G01N30/24
• 代理公司: 臺州藍天知識產權代理有限公司 33229
• 代理人: 羅佩芝

1.一種自動進樣器，包括有取樣機構，其特征在于：該取樣機構包括：X軸運動組件、Y軸運動組件及Z軸運動組件；

所述X軸運動組件包括有設置在基座上的X軸導軌，在X軸導軌上設置有基板座，在基板座上設置有X軸光耦，在基座上設置有X軸樣品瓶定位片，X軸樣品瓶定位片上設置有若干個定位凹槽，所述X軸光耦隨基板座由X軸驅動機構帶動沿X軸導軌往復移動，且基板座通過X軸光耦狀態確定機械原點及移動至相應的樣品瓶上方；

所述Y軸運動組件包括有設置在基板上的Y軸導軌，在Y軸導軌上設置有樣品瓶安裝板，在樣品瓶安裝板的一側設置有與Y軸導軌平行的Y軸樣品瓶定位片，Y軸樣品瓶定位片上設置有若干個定位凹槽，在基板上設置有Y軸光耦，所述Y軸樣品瓶定位片隨樣品瓶安裝板由Y軸驅動機構驅動沿Y軸導軌往復移動，且樣品瓶安裝板通過Y軸光耦狀態確定機械原點及將樣品瓶移動至相應的位置；

所述Z軸運動組件包括有Z軸導軌，Z軸導軌設置在基板座上，在Z軸導軌上設置有進樣針組件，進樣針組件由Z軸驅動機構驅動沿Z軸導軌移動刺入樣品瓶。

2.根據權利要求1所述的一種自動進樣器，其特征在于：所述X軸驅動機構包括有X軸主動輪、X軸從動輪及連接X軸主動輪與X軸從動輪的同步帶，X軸主動輪由X軸電機驅動轉動；所述基板座固定在同步帶上并隨同步帶一起移動。

3.根據權利要求1所述的一種自動進樣器，其特征在于：所述Y軸驅動機構包括有Y軸主動輪、Y軸從動輪及連接Y軸主動輪與Y軸從動輪的同步帶，Y軸主動輪由Y軸電機驅動轉動；所述樣品瓶安裝板連接在同步帶上并隨同步帶一起移動。

4.根據權利要求1所述的一種自動進樣器，其特征在于：所述Z軸驅動機構包括有Z軸主動輪、Z軸從動輪及連接Z軸主動輪與Z軸從動輪的同步帶，Z軸主動輪由Z軸電機驅動轉動，所述Z軸從動輪設置在絲桿上，進樣針組件設置在絲桿上并沿Z軸導軌往復移動。

5.根據權利要求1所述的一種自動進樣器，其特征在于：所述X軸光耦、Y軸光耦上均設置有凹槽，所述X軸樣品瓶定位片位于X軸光耦的凹槽中心，Y軸樣品瓶定位片位于Y軸光耦的凹槽中心。

6.一種如權利要求1-5任一項所述的一種自動進樣器的進樣方法，其特征在于：包括如下步驟：

(1)X軸運動：由X軸驅動組件驅動基板座沿X軸導軌移動并根據X軸光耦的狀態確定機械原點，然后控制基板座根據X軸光耦上的定位凹槽的位置判斷并移動至樣品瓶位置；

(2)Y軸運動：由Y軸驅動組件驅動樣品瓶安裝板沿Y軸導軌移動并根據Y軸光耦的狀態確定機械原點，然后控制樣品瓶安裝板上的樣品瓶移動至相應的位置；

(3)Z軸運動：由Z軸驅動組件驅動進樣針組件沿著Z軸導軌向下移動并刺入樣品瓶中，完成取樣。

7.根據權利要求6所述的一種自動進樣器的進樣方法，其特征在于：所述基板座根據X軸光耦狀態，如果X軸光耦未擋住，表面當前處于定位凹槽中，X軸驅動機構驅動基板座繼續正向移動，直到X軸光耦被擋住；當X軸光耦狀態顯示擋住時，X軸驅動機構驅動基板座反方運動，直到X軸光耦不被擋住，顯示當前處于定位凹槽狀態，并計算當前定位凹槽的寬度，如果寬度小于設定值，則基板座繼續往反向運動，直到找到大于設定值的定位凹槽位置，該位置為機械原點。

8.根據權利要求7所述的一種自動進樣器的進樣方法，其特征在于：基板座根據單片機設定的計時器n＝0,X軸驅動機構往正向運動，當檢測到一個定位凹槽位置，則n＝n+1，檢測到定位凹槽位置的數量即為該數量號次的樣品瓶的位置，即所述定位凹槽的位置與樣品瓶位置一一對應，定位凹槽的中心為樣品瓶的中心。