[發明專利]一種紅外觸摸屏定位精度的模擬分析方法

有效

• 申請號: 201611188923.X
• 申請日: 2016-12-21
• 公開（公告）號: CN106775091B
• 公開（公告）日: 2022-04-01
• 發明（設計）人: 滿慶奎
• 申請（專利權）人: 北京匯冠觸摸技術有限公司;三盛智慧教育科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/042
• 代理公司: 北京圣州專利代理事務所(普通合伙) 11818
• 代理人: 王振佳

本發明公開了一種紅外觸摸屏定位精度的模擬分析方法，包括如下步驟：（1）預先設定要分析的觸摸屏的物理尺寸和紅外發射及接收管的位置分布坐標，生成光路圖，提取觸摸屏的有效觸摸區域，作為最大盲區的評估區域，所述盲區指的是沒有光線通過的區域；（2）分析水平方向有效觸摸區域的最大盲區和分析垂直方向有效觸摸區域的最大盲區，所述最大盲區的值越小，精度越高。利用上述方案，可以對最大光路設計盲區進行量化；對觸摸屏設計具有指導意義，縮短設計開發周期，而且不需要先制作樣品再測試，非常直觀，降低了設計成本。

技術領域

本發明涉及觸摸屏領域，尤其涉及一種紅外觸摸屏定位精度的模擬分析方法。

背景技術

現有紅外觸摸技術中，對紅外觸摸屏進行觸摸定位是借助于觸摸物遮擋了發射燈光線，根據被遮擋的光線信息來進行定位該觸摸物的位置。

在高精度觸摸屏中，光路設計由水平和垂直兩組發射和接收燈管產生的掃描光線形成，通過數據解析得到水平和垂直兩條邊的單方向數據圖像，然后將水平和垂直邊分別得到的單方向數據圖像進行圖像疊加，得到最終的光路圖像；

定位觸摸物體的位置精度與紅外發射燈和多軸（一個發射燈對多個接收燈）掃描角度設計有直接關系，發射燈和接收燈的間距直接影響了觸摸屏的精度；觸摸屏的精度指的是實際觸摸位置坐標與觸摸屏識別出來的位置坐標的偏差，偏差越小精度越高。在相同的燈排布條件下，多軸掃描時，光路設計也是影響精度的關鍵。在有限的紅外燈條件下，好的光路設計對最終觸摸精度有直接的影響。

光路設計完成后，對應精度主要受單方向精度差的掃描邊影響，對應單方向某個區域的最大盲區直接表征了屏的精度。

現有技術測試觸摸屏的精度通常采用制作樣品進行測試，設計周期長，成本高，還沒有出現一種利用計算機模擬分析觸摸屏精度的方法，無法量化光路盲區，不能直觀的表現該光路設計存在的問題。

發明內容

本發明的目的在于針對現有的缺陷，提供一種紅外觸摸屏定位精度的模擬分析方法，尤其是紅外掃描邊界定位精度的最小分辨率評估方法。

為了解決上述技術問題，本發明公開了一種本發明提供一種紅外觸摸屏定位精度的模擬分析方法，包括如下步驟：

（1）預先設定要分析的觸摸屏的物理尺寸和紅外發射及接收管的位置分布坐標，生成光路圖，提取觸摸屏的有效觸摸區域，作為最大盲區的評估區域，所述盲區指的是沒有光線通過的區域；

（2）分析水平方向有效觸摸區域的最大盲區和分析垂直方向有效觸摸區域的最大盲區，所述最大盲區的值越小，精度越高。

優選地，所述步驟（1）包括：

A、設定需要模擬的觸摸屏的尺寸、紅外發射管與紅外接收管的位置坐標及光路對應表，按照模擬設計的觸摸屏物理尺寸，以及對應的光路設計配置表，按照固定的比例，生成對應真實光路的模擬光路圖；

B、排除非觸摸區域，獲取有效觸摸區域；

C、通過垂直邊光路設計數據構建垂直邊單方向掃描圖像，通過水平邊光路設計數據構建水平邊單方向光路圖，提取出對應的有效觸摸區域光路圖。

優選地，所述步驟（2）中分析水平方向有效觸摸區域的最大盲區包括：

第一步，圖像求反，把盲區作為目標；

第二步，對目標進行圖像形態學腐蝕操作，去除小的孔洞噪聲；

第三步，輪廓遍歷，提取出最大的盲區的輪廓信息，計算該盲區輪廓的最小面積的外接矩形信息，包括輪廓的長度和高度，以及中心位置信息，完成水平方向最大盲區的計算。

優選地，所述步驟（2）中分析垂直方向有效觸摸區域的最大盲區包括：

第一步，圖像求反，把盲區作為目標；