[發明專利]一種測試產品功能的方法和裝置

有效

• 申請號: 201611187262.9
• 申請日: 2016-12-20
• 公開（公告）號: CN106813703B
• 公開（公告）日: 2019-06-28
• 發明（設計）人: 李寧
• 申請（專利權）人: 歌爾科技有限公司
• 主分類號: G01D18/00
• 分類號: G01D18/00
• 代理公司: 北京市隆安律師事務所 11323
• 代理人: 權鮮枝;吳昊

本發明公開了一種測試產品功能的方法和裝置。該方法包括：在測試環境A下對待測產品進行n次功能測試獲得的n個數據，計算平均值Avg_A和標準差SD_A；在測試環境B下對待測產品進行n次相同的功能測試獲得的n個數據，計算平均值Avg_B和標準差SD_B；計算兩種測試環境下的標準差平均值SD；判斷兩種測試環境下的標準差的差異是否小于或等于f₁×SD，若判斷為否，則判定該待測產品的功能不正常；是則進一步判斷兩種測試環境下的平均值的差異是否大于或等于f₂×SD，是則判定該待測產品的功能正常，否則判定該待測產品的功能不正常。可見，本發明能夠在保證功能測試結果的準確度的前提下，消除產品本身誤差的影響，提高測試的穩定性。

技術領域

本發明涉及產品功能測試技術領域，特別涉及一種測試產品功能的方法和裝置。

背景技術

電子產品功能的好壞直接影響用戶的體驗。例如，在帶有傳感器功能模塊的電子產品的生產測試中，需要對傳感器的功能進行測試，以保證傳感器具有符合要求的感應靈敏度，以及每個產品功能的穩定性，這些傳感器包括接近感應傳感器、張力傳感器、聲吶傳感器等。產品功能測試必須要滿足的條件就是準確和穩定。一方面要保證測試成功的產品在功能方面是符合要求的，另一方面要避免對良品的誤判。

現有技術中，通常是限定一個符合要求的標準范圍，只要滿足該標準范圍的產品均可通過，但是通常情況下，不同批次的電子產品的功能測試結果的誤差較大，測試結果穩定性差，采用限定一個標準范圍的方式無法保證功能測試結果的準確性，導致復測率和不良率提高。

發明內容

鑒于現有技術的產品功能測試無法保證穩定和準確，導致復測率和不良率提高的問題，提出了本發明的一種測試產品功能的方法和裝置，以便解決或至少部分地解決上述問題。

根據本發明的一個方面，提供了一種測試產品功能的方法，所述方法包括：

在測試環境A下對待測產品進行n次功能測試獲得的n個數據，計算平均值Avg_A和標準差SD_A；

在測試環境B下對所述待測產品進行n次相同的功能測試獲得的n個數據，計算平均值Avg_B和標準差SD_B；

計算測試環境A的標準差SD_A和測試環境B下的標準差SD_B的平均值SD；

判斷兩種測試環境下的標準差的差異|SD_B-SD_A|是否小于或等于，若判斷為否，則判定該待測產品的功能不正常并結束測試；若判斷為是，則進一步判斷兩種測試環境下的平均值的差異|Avg_B-Avg_A|是否大于或等于，若判斷為是，則判定該待測產品的功能正常并結束測試，否則判定該待測產品的功能不正常并結束測試；

其中，n取值大于設定測試次數，f₁為根據功能正常的產品樣本確定的判定參數，f₂為根據測試環境A和測試環境B的差異性確定的判定參數。

根據本發明的另一個方面，提供了一種測試產品功能的裝置，所述裝置包括：

數據獲取單元，用于獲取在測試環境A下對待測產品進行n次功能測試獲得的n個數據和在測試環境B下對待測產品進行n次相同的功能測試獲得的n個數據；

計算單元，用于對測試環境A下獲得的n個數據計算平均值Avg_A和標準差SD_A、對測試環境B下獲得的n個數據計算平均值Avg_B和標準差SD_B，以及計算測試環境A下的標準差SD_A與測試環境B下的標準差SD_B的平均值SD；