[發(fā)明專利]應(yīng)用于環(huán)形天線的Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備方法有效
申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 201611183904.8 | 申請(qǐng)日: | 2016-12-20 |
公開(kāi)(公告)號(hào): | CN106783593B | 公開(kāi)(公告)日: | 2021-01-12 |
發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 尹曉雪;張亮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 嘉興奧恒進(jìn)出口有限公司 |
主分類號(hào): | H01L21/329 | 分類號(hào): | H01L21/329;H01Q23/00 |
代理公司: | 西安嘉思特知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 61230 | 代理人: | 劉長(zhǎng)春 |
地址: | 314000 浙江省嘉興市南湖區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索關(guān)鍵詞: | 應(yīng)用于 環(huán)形 天線 ge 基異質(zhì) 固態(tài) 等離子 二極管 制備 方法 | ||
本發(fā)明涉及一種應(yīng)用于環(huán)形天線的Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備方法,包括:選取某一晶向的GeOI襯底,并在所述GeOI襯底內(nèi)設(shè)置隔離區(qū);在所述GeOI襯底表面形成第二保護(hù)層;利用光刻工藝在所述第二保護(hù)層上形成第二隔離區(qū)圖形;利用干法刻蝕工藝在所述第二隔離區(qū)圖形的指定位置處刻蝕所述第二保護(hù)層及所述GeOI襯底以形成所述P型溝槽和所述N型溝槽;填充所述P型溝槽和所述N型溝槽,并采用離子注入在所述GeOI襯底的頂層Ge內(nèi)形成P型有源區(qū)和N型有源區(qū);在所述GeOI襯底上形成引線,以完成所述Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備。本發(fā)明實(shí)施例利用深槽隔離技術(shù)及離子注入工藝能夠制備并提供適用于形成固態(tài)等離子天線的高性能異質(zhì)Ge基固態(tài)等離子二極管。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體器件制造技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種應(yīng)用于環(huán)形天線的Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備方法。
背景技術(shù)
現(xiàn)如今,各種通信系統(tǒng)發(fā)展的重要方向之一是大容量、多功能、超寬帶。通過(guò)提高系統(tǒng)容量、增加系統(tǒng)功能、擴(kuò)展系統(tǒng)帶寬。通過(guò)提高系統(tǒng)容量、增加系統(tǒng)功能、控制系統(tǒng)帶寬,一方面可以滿足日益膨脹的實(shí)際需求,另一方面也可以降低系統(tǒng)成本。而天線作為各種無(wú)線通信系統(tǒng)的前端,其性能對(duì)于通信系統(tǒng)整體功能具有重要的影響,因此也相應(yīng)的對(duì)其提出了諸如多頻、寬帶、小型化等要求。隨著無(wú)線通信系統(tǒng)的日益復(fù)雜化,單一的傳統(tǒng)天線已經(jīng)不能滿足要求。而多天線設(shè)計(jì)雖然可以滿足新一代無(wú)線通信系統(tǒng)對(duì)天線的搞要求,但是,天線數(shù)目的增多,會(huì)是設(shè)備成本、天線的空間布局等問(wèn)題凸顯出來(lái)。在這種情況下,可重構(gòu)天線就具有非常明顯的優(yōu)勢(shì)。它可在不改變天線的尺寸和結(jié)構(gòu)的情況下在天線的方向圖、工作頻率、極化特性等方面實(shí)現(xiàn)重構(gòu),從而使一個(gè)天線能夠?qū)崿F(xiàn)多個(gè)天線的功能。
目前,市面上有一類頻率可重構(gòu)天線,其重要構(gòu)成部件固態(tài)等離子二極管采用的材料均為體硅材料,此材料存在本征區(qū)載流子遷移率較低問(wèn)題,影響固態(tài)等離子二極管本征區(qū)載流子濃度,進(jìn)而影響其固態(tài)等離子體濃度;并且該結(jié)構(gòu)的P區(qū)與N區(qū)大多采用注入工藝形成,此方法要求注入劑量和能量較大,對(duì)設(shè)備要求高,且與現(xiàn)有工藝不兼容;而采用擴(kuò)散工藝,雖結(jié)深較深,但同時(shí)P區(qū)與N區(qū)的面積較大,集成度低,摻雜濃度不均勻,影響固態(tài)等離子二極管的電學(xué)性能,導(dǎo)致固態(tài)等離子體濃度和分布的可控性差。
因此,選擇何種材料及工藝來(lái)制作一種合適材料的二極管串以應(yīng)用于環(huán)形頻率可重構(gòu)天線,是亟待解決的問(wèn)題。
發(fā)明內(nèi)容
因此,為解決現(xiàn)有技術(shù)存在的技術(shù)缺陷和不足,本發(fā)明提出一種應(yīng)用于環(huán)形天線的Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備方法。
具體的,本發(fā)明實(shí)施例提供一種應(yīng)用于環(huán)形天線的Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備方法,所述Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管用于制作可重構(gòu)環(huán)形天線,所述環(huán)形天線包括:半導(dǎo)體基片(1);介質(zhì)板(2);第一固態(tài)等離子二極管環(huán)(3)、第二固態(tài)等離子二極管環(huán)(4)、第一直流偏置線(5)及第二直流偏置線(6),均設(shè)置于所述半導(dǎo)體基片(1)上;耦合式饋源(7),設(shè)置于所述介質(zhì)板(2)上;所述第一固態(tài)等離子二極管環(huán)(3)、所述第二固態(tài)等離子二極管環(huán)(4)、所述第一直流偏置線(5)及所述第二直流偏置線(6)均采用半導(dǎo)體工藝制作在所述半導(dǎo)體基片(1)上;
所述制備方法包括步驟:
(a)選取某一晶向的GeOI襯底,并在所述GeOI襯底內(nèi)設(shè)置隔離區(qū);
(b)在所述GeOI襯底表面形成第二保護(hù)層;
(c)利用光刻工藝在所述第二保護(hù)層上形成第二隔離區(qū)圖形;
(d)利用干法刻蝕工藝在所述第二隔離區(qū)圖形的指定位置處刻蝕所述第二保護(hù)層及所述GeOI襯底以形成所述P型溝槽和所述N型溝槽;
(e)填充所述P型溝槽和所述N型溝槽,并采用離子注入在所述GeOI襯底的頂層Ge內(nèi)形成P型有源區(qū)和N型有源區(qū);
(f)在所述GeOI襯底上形成引線,以完成所述Ge基異質(zhì)固態(tài)等離子二極管的制備。
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- 同類專利
- 專利分類
H01L 半導(dǎo)體器件;其他類目中不包括的電固體器件
H01L21-00 專門適用于制造或處理半導(dǎo)體或固體器件或其部件的方法或設(shè)備
H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
H01L21-64 .非專門適用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各組的單個(gè)器件所使用的除半導(dǎo)體器件之外的固體器件或其部件的制造或處理
H01L21-66 .在制造或處理過(guò)程中的測(cè)試或測(cè)量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過(guò)程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過(guò)程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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